|
||||||||||||||||||
Дифракционное изображение дефектов в рентгеновской топографии (рентгеновской микроскопии)Институт физики твердого тела имени Ю.А. Осипьяна РАН, ул. Академика Осипьяна 2, Черноголовка, Московская обл., 142432, Российская Федерация Рассмотрены вопросы образования и структуры рентгеновского дифракционного изображения дефектов кристаллической решётки в методах рентгеновской топографии. Проанализированы подходы описания (лучевая и волновая оптика) и области применения геометрической и дифракционной оптики реального кристалла. На примерах конкретных экспериментальных изображений дислокаций и других дефектов продемонстрирована роль различных дифракционных эффектов (отражение волн от искажений кристаллической решётки, дифракционная фокусировка, каналирование), влияющих на характер формируемого изображения. Обсуждаются возможности получения количественной информации о параметрах дефектов.
|
||||||||||||||||||
|