RSS-ленты
РусскийEnglish
Выпуск 12, 2024
Том год страница
Выпуски Авторы PACS Подписчикам Для авторов

Выпуски

 / 

2015

 / 

Сентябрь

←  →

Обзоры актуальных проблем


Дифракционное изображение дефектов в рентгеновской топографии (рентгеновской микроскопии)

,
Институт физики твердого тела имени Ю.А. Осипьяна РАН, ул. Академика Осипьяна 2, Черноголовка, Московская обл., 142432, Российская Федерация

Рассмотрены вопросы образования и структуры рентгеновского дифракционного изображения дефектов кристаллической решётки в методах рентгеновской топографии. Проанализированы подходы описания (лучевая и волновая оптика) и области применения геометрической и дифракционной оптики реального кристалла. На примерах конкретных экспериментальных изображений дислокаций и других дефектов продемонстрирована роль различных дифракционных эффектов (отражение волн от искажений кристаллической решётки, дифракционная фокусировка, каналирование), влияющих на характер формируемого изображения. Обсуждаются возможности получения количественной информации о параметрах дефектов.

Текст pdf (1,2 Мб)
English fulltext is available at DOI: 10.3367/UFNe.0185.201509a.0897
Ключевые слова: дефекты кристаллической структуры, физика дифракции рентгеновских лучей, рентгеновская топография, рентгеновская оптика, дифракционный контраст дефектов, дифракционное изображение, секционные топограммы, блоховские волны, траектории лучей, упругое поле дислокаций, уравнения Такаги—Топена, численное моделирование дифракционного изображения
PACS: 61.05.C−, 61.72.Dd, 61.72.Ff (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0185.201509a.0897
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2015/9/a/
000366405400001
2015PhyU...58..833S
Цитата: Суворов Э В, Смирнова И А "Дифракционное изображение дефектов в рентгеновской топографии (рентгеновской микроскопии)" УФН 185 897–915 (2015)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

Поступила: 5 мая 2015, 9 июня 2015

English citation: Suvorov E V, Smirnova I A “X-ray diffraction imaging of defects in topography (microscopy) studies” Phys. Usp. 58 833–849 (2015); DOI: 10.3367/UFNe.0185.201509a.0897

Список литературы (103) Статьи, ссылающиеся на эту (13) Похожие статьи (20) ↓

  1. В.Л. Инденбом, Ф.Н. Чуховский «Проблема изображения в рентгеновской оптике» УФН 107 229–265 (1972)
  2. М.В. Ковальчук, В.Г. Кон «Рентгеновские стоячие волны — новый метод исследования структуры кристаллов» УФН 149 69–103 (1986)
  3. В.И. Пунегов «Высокоразрешающая рентгеновская дифракция в кристаллических структурах с квантовыми точками» УФН 185 449–478 (2015)
  4. В.А. Бушуев, А.И. Франк «Эффект Гуса—Хенхен в нейтронной оптике и время отражения нейтронных волн» УФН 188 1049–1062 (2018)
  5. Г.В. Фетисов «Рентгеновские дифракционные методы структурной диагностики материалов: прогресс и достижения» УФН 190 2–36 (2020)
  6. В.В. Лидер «Прецизионное определение параметров кристаллической решётки» УФН 190 971–994 (2020)
  7. В.В. Лидер «Многослойные рентгеновские интерференционные структуры» УФН 189 1137–1171 (2019)
  8. В.Б. Молодкин, А.П. Шпак и др. «Многопараметрическая кристаллография на основе многообразности картины многократного рассеяния брэгговских и диффузных волн (метод стоячих диффузных волн)» УФН 181 681–712 (2011)
  9. Л.Г. Орлов, М.П. Усиков, Л.М. Утевский «Наблюдение дислокаций в металлах с помощью электронного микроскопа» УФН 76 109–152 (1962)
  10. Д.М. Васильев, Б.И. Смирнов «Некоторые рентгенографические методы изучения пластически деформированных металлов» УФН 73 503–558 (1961)
  11. В.И. Карась, В.И. Соколенко «Неравновесная кинетика электрон-фононной подсистемы кристалла при действии переменных электрических и магнитных полей как основа электро- и магнитопластического эффектов» УФН 188 1155–1177 (2018)
  12. А.А. Майер «Оптическое самопереключение однонаправленных распределенно-связанных волн» УФН 165 1037–1075 (1995)
  13. Г.В. Спивак, Г.В. Сапарин, М.В. Быков «Растровая электронная микроскопия» УФН 99 635–672 (1969)
  14. Е.Ю. Кокориш, Н.Н. Шефталь «Дислокации в полупроводниковых кристаллах» УФН 72 479–494 (1960)
  15. И.М. Тернов «Синхротронное излучение» УФН 165 429–456 (1995)
  16. В.В. Аристов, Л.Г. Шабельников «Современные достижения рентгеновской оптики преломления» УФН 178 61–83 (2008)
  17. В.Г. Плеханов «Изотопические эффекты и эффекты разупорядочения в спектроскопии экситонов большого радиуса» УФН 167 577–604 (1997)
  18. Б.К. Вайнштейн «Электронная микроскопия атомного разрешения» УФН 152 75–122 (1987)
  19. С.В. Дмитриев, Е.А. Корзникова и др. «Дискретные бризеры в кристаллах» УФН 186 471–488 (2016)
  20. В.С. Вавилов «Миграция атомов в полупроводниках и изменения числа и структуры дефектов, инициируемые возбуждением электронной подсистемы» УФН 167 407–412 (1997)

Список формируется автоматически.
© Успехи физических наук, 1918–2024
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение