Выпуски

 / 

1986

 / 

Май

  

Обзоры актуальных проблем


Рентгеновские стоячие волны — новый метод исследования структуры кристаллов

 а,
а Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова РАН, Ленинский просп. 59, Москва, 119333, Российская Федерация

Обсуждаются физическая природа, возможности и перспективы применения нового метода исследования структуры кристаллов и тонких приповерхностных слоев, основанного на регистрации вторичных излучений, таких, как внешняя и внутренняя фотоэлектронная эмиссия, а также рентгеновская флуоресценция, в условиях динамической дифракции рентгеновских лучей в монокристаллах, когда интенсивность поля излучения в кристалле копирует периодичность кристаллической решетки в виде стоячей волны вдоль вектора дифракции. Метод позволяет измерять абсолютные смещения атомных плоскостей в кристалле на доли ангстрема, а также определять степень порядка в расположении атомов в приповерхностном слое. Наряду с изложением истории вопроса и обзором наиболее важных работ, опубликованных в этой области за последние двадцать лет, достаточно подробно изложены вопросы теории и экспериментальной техники метода стоячих рентгеновских волн. Ил. 19. Библиогр. ссылок 140.

Текст: pdf
Войдите или зарегистрируйтесь чтобы получить доступ к полным текстам статей.
PACS: 61.50.Ah, 68.49.Uv, 79.60.Bm, 78.70.En (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0149.198605c.0069
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1986/5/c/
Цитата: Ковальчук М В, Кон В Г "Рентгеновские стоячие волны — новый метод исследования структуры кристаллов" УФН 149 69–103 (1986)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

English citation: Koval’chuk M V, Kohn V G “X-ray standing waves—a new method of studying the structure of crystalsSov. Phys. Usp. 29 426–446 (1986); DOI: 10.1070/PU1986v029n05ABEH003377

© Успехи физических наук, 1918–2019
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение