Рентгеновские стоячие волны — новый метод исследования структуры кристаллов
М.В. Ковальчук а,
В.Г. Кон
а Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова РАН, Ленинский просп. 59, Москва, 119333, Российская Федерация
Обсуждаются физическая природа, возможности и перспективы применения
нового метода исследования структуры кристаллов и тонких приповерхностных слоев,
основанного на регистрации вторичных излучений, таких, как внешняя и внутренняя
фотоэлектронная эмиссия, а также рентгеновская флуоресценция, в условиях динамической дифракции рентгеновских лучей в монокристаллах, когда интенсивность поля
излучения в кристалле копирует периодичность кристаллической решетки в виде стоячей волны вдоль вектора дифракции. Метод позволяет измерять абсолютные смещения
атомных плоскостей в кристалле на доли ангстрема, а также определять степень порядка
в расположении атомов в приповерхностном слое. Наряду с изложением истории вопроса
и обзором наиболее важных работ, опубликованных в этой области за последние двадцать лет, достаточно подробно изложены вопросы теории и экспериментальной техники
метода стоячих рентгеновских волн. Ил. 19. Библиогр. ссылок 140.
|