Выпуски

 / 

2020

 / 

Сентябрь

  

Обзоры актуальных проблем


Прецизионное определение параметров кристаллической решётки


Федеральный научно-исследовательский центр "Кристаллография и фотоника" РАН, Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова РАН, Ленинский просп. 59, Москва, 119333, Российская Федерация

Описываются и сравниваются прецизионные рентгеновские методы абсолютного и относительного определения параметров кристаллической решётки (межплоскостных расстояний), в том числе метод косселевских проекций (метод дифракции широко расходящегося пучка), метод Бонда, метод Реннингера, метод обратного отражения, интерференционный метод, метод стандартов (эталонов). Показано, что для большинства рассмотренных методов достижима относительная точность определения параметров решётки $\sim 10 ^{-5}-10^{-6}$, причём последние два метода дают гораздо бóльшую точность, $\sim 10 ^{-8}-10^{-9}$.

Текст pdf (1,1 Мб)
English fulltext is available at DOI: 10.3367/UFNe.2019.07.038599
Ключевые слова: рентгеновское излучение, дифракция, угол Брэгга, параметр кристаллической решётки, межплоскостное расстояние
PACS: 06.20.Jr, 07.85.−m, 61.05.cp, 61.50.−f (все)
DOI: 10.3367/UFNr.2019.07.038599
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2020/9/d/
Цитата: Лидер В В "Прецизионное определение параметров кристаллической решётки" УФН 190 971–994 (2020)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

Поступила: 14 мая 2019, доработана: 1 июля 2019, 2 июля 2019

English citation: Lider V V “Precise determination of crystal lattice parametersPhys. Usp. 63 907–928 (2020); DOI: 10.3367/UFNe.2019.07.038599

© Успехи физических наук, 1918–2023
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение