Рассмотрены вопросы образования и структуры рентгеновского дифракционного изображения дефектов кристаллической решётки в методах рентгеновской топографии. Проанализированы подходы описания (лучевая и волновая оптика) и области применения геометрической и дифракционной оптики реального кристалла. На примерах конкретных экспериментальных изображений дислокаций и других дефектов продемонстрирована роль различных дифракционных эффектов (отражение волн от искажений кристаллической решётки, дифракционная фокусировка, каналирование), влияющих на характер формируемого изображения. Обсуждаются возможности получения количественной информации о параметрах дефектов.

Ключевые слова: дефекты кристаллической структуры, физика дифракции рентгеновских лучей, рентгеновская топография, рентгеновская оптика, дифракционный контраст дефектов, дифракционное изображение, секционные топограммы, блоховские волны, траектории лучей, упругое поле дислокаций, уравнения Такаги—Топена, численное моделирование дифракционного изображения PACS: 61.05.C−, 61.72.Dd, 61.72.Ff (все) DOI: 10.3367/UFNr.0185.201509a.0897 URL: https://ufn.ru/ru/articles/2015/9/a/ 000366405400001 2015PhyU...58..833S Цитата: Суворов Э В, Смирнова И А "Дифракционное изображение дефектов в рентгеновской топографии (рентгеновской микроскопии)" УФН 185 897–915 (2015) BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks Поступила: 5 мая 2015, одобрена в печать: 9 июня 2015 English citation: Suvorov E V, Smirnova I A “X-ray diffraction imaging of defects in topography (microscopy) studies” Phys. Usp. 58 833–849 (2015); DOI: 10.3367/UFNe.0185.201509a.0897