 |
RSS-ленты |
|
|||||
| Выпуск 3, 2020 |
|
||||||
|
|
|
||||||
Выпуски/2019/Ноябрь |
← → |
| Обзоры актуальных проблем |
Многослойные рентгеновские интерференционные структуры
Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова РАН, Ленинский просп. 59, Москва, 119333, Российская Федерация
Рассмотрены принципы функционирования, современное состояние и проблемы в области многослойной рентгеновской оптики. Обсуждаются методы оптимизации планарных многослойных интерференционных структур и многослойных дифракционных решёток, их применение в науке и технике.
|
Ключевые слова: многослойные системы, дифракционные решётки, рентгеновское излучение, рентгеновская оптика, дифракция, интерференция, спектральное разрешение
PACS: 07.85.−m, 41.50.+h, 42.79.Dj, 42.88.+h, 61.05.cp, 78.20.Bh, 78.67.Pt, 95.55.Ka () DOI: URL: https://ufn.ru/ru/articles/2019/11/a/ Цитата: Лидер В В "Многослойные рентгеновские интерференционные структуры" УФН 189 1137–1171 (2019) Поступила: 12 июля 2018, доработана: 24 сентября 2018, одобрена в печать: 4 октября 2018 English citation: Lider V V “Multilayer X-ray interference structures” Phys. Usp. 62 1063–1095 (2019); |
|
© Успехи физических наук, 1918–2020 Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение |