Выпуски

 / 

2015

 / 

Май

  

Обзоры актуальных проблем


Высокоразрешающая рентгеновская дифракция в кристаллических структурах с квантовыми точками


Коми научный центр, Уральское отделение РАН, ул. Чернова 3а, Сыктывкар, Республика Коми, 167982, Российская Федерация

Представлено современное состояние неразрушающих исследований полупроводниковых структур с квантовыми точками (КТ) в рамках метода высокоразрешающей рентгеновской дифрактометрии. С позиций формализма статистической теории дифракции рассмотрено когерентное и диффузное рассеяние рентгеновских лучей в кристаллических системах с нановключениями. Продемонстрировано влияние формы, упругих деформаций, латеральной и вертикальной корреляции КТ на угловое распределение диффузного рассеяния вблизи узла обратной решётки. На примере короткопериодных и многокомпонентных сверхрешёток с КТ показана эффективность модельного подхода для количественного анализа наноструктурированных материалов с использованием экспериментальных данных.

Текст: pdf
Войдите или зарегистрируйтесь чтобы получить доступ к полным текстам статей.
Ключевые слова: высокоразрешающая рентгеновская дифракция, когерентное и диффузное рассеяние, сверхрешётка, квантовые точки
PACS: 61.05.C−, 68.65.−k (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0185.201505a.0449
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2015/5/a/
Цитата: Пунегов В И "Высокоразрешающая рентгеновская дифракция в кристаллических структурах с квантовыми точками" УФН 185 449–478 (2015)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

Поступила: 9 января 2015, доработана: 8 февраля 2015, 10 февраля 2015

English citation: Punegov V I “High-resolution X-ray diffraction in crystalline structures with quantum dotsPhys. Usp. 58 419–445 (2015); DOI: 10.3367/UFNe.0185.201505a.0449

© Успехи физических наук, 1918–2019
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение