 |
RSS-ленты |
|
|||||
| Выпуск 4, 2024 |
|
||||||
|
|
|
||||||
Указатель PACS
61.05.C− X-ray diffraction and scattering
68.37.Hk Scanning electron microscopy (SEM) (including EBIC)
68.37.Lp Transmission electron microscopy (TEM)
78.70.Gq Microwave and radio-frequency interactions
-
В.В. Лидер «Рентгеновская рефракционная интроскопия» 194 345–359 (2024)
07.85.−m, 41.50.+h, 61.05.C−, 78.20.Bh, 87.59.−e () -
И.Г. Дьячкова, Д.А. Золотов и др. «Возможности СВЧ-метода активации углеродных материалов в сравнении с традиционным термическим» 193 1325–1334 (2023)
61.05.C−, 68.37.Hk, 68.37.Lp, 78.70.Gq () -
В.М. Муравьев, И.В. Кукушкин «Коллективные плазменные возбуждения в двумерных электронных системах» 190 1041–1061 (2020)
73.21.−b, 73.22.−f, 73.43.Lp, 78.70.Gq () -
Г.В. Фетисов «Рентгеновские дифракционные методы структурной диагностики материалов: прогресс и достижения» 190 2–36 (2020)
07.85.−m, 42.55.Vc, 61.05.C− () -
Э.В. Суворов, И.А. Смирнова «Дифракционное изображение дефектов в рентгеновской топографии (рентгеновской микроскопии)» 185 897–915 (2015)
61.05.C−, 61.72.Dd, 61.72.Ff () -
В.И. Пунегов «Высокоразрешающая рентгеновская дифракция в кристаллических структурах с квантовыми точками» 185 449–478 (2015)
61.05.C−, 68.65.−k () -
В.Я. Покровский, С.Г. Зыбцев и др. «Высокочастотные, «квантовые» и электромеханические эффекты в квазиодномерных кристаллах с волной зарядовой плотности» 183 33–54 (2013)
61.44.Fw, 62.25.−g, 71.45.Lr, 72.20.Fr, 73.20.Mf, 78.70.Gq () -
Б.М. Смирнов «Процессы с участием кластеров и малых частиц в буферном газе» 181 713–745 (2011)
36.40.−c, 36.40.Sx, 61.43.Hv, 64.70.D−, 68.37.Hk () -
А.М. Подурец «Импульсные рентгенографические исследования структуры веществ в ударных волнах» 181 427–434 (2011)
07.35.+k, 47.40.−x, 61.05.C− () -
В.А. Черепенин «Релятивистские многоволновые генераторы и их возможные применения» 176 1124–1130 (2006)
01.10.Fv, 78.70.Gq, 84.40.Fe, 84.47.+w () -
Н.С. Маслова, В.И. Панов «Сканирующая туннельная микроскопия атомной структуры, электронных свойств и поверхностных химических реакций» 157 185–195 (1989)
68.37.Hk, 68.35.Bs, 73.20.At, 68.43.−h, 82.65.+r () -
В.Г. Дюков «Растровая электронная микроскопия: физика формирования изображений и микроанализа» 152 357–358 (1987)
68.37.Hk -
Б.К. Вайнштейн «Электронная микроскопия атомного разрешения» 152 75–122 (1987)
07.78.+s, 68.37.Lp, 61.66.−f () -
Г.В. Спивак, Г.В. Сапарин, М.К. Антошин «Цветной контраст в растровой электронной микроскопии» 113 695–699 (1974)
68.37.Hk, 78.60.Hk, 07.68.+m () -
В.В. Леманов, Г.А. Смоленский «Гиперзвуковые волны в кристаллах» 108 465–501 (1972)
78.70.Gq, 78.35.+c, 63.20.Kr, 75.30.Ds, 75.80.+q, 72.20.Fr () -
В.И. Петров, Г.В. Спивак, О.П. Павлюченко «Электронная микроскопия магнитной структуры тонких пленок» 106 229–278 (1972)
75.25.+z, 75.70.Ak, 68.37.Lp, 75.60.Ch, 75.60.Ej () -
Г.В. Спивак, Г.В. Сапарин, М.В. Быков «Растровая электронная микроскопия» 99 635–672 (1969)
07.78.+s, 68.37.Hk, 78.60.Hk, 61.72.Ff, 87.64.Ee () -
Л.А. Блюменфельд, В.В. Воеводский «Радиоспектроскопия и проблемы современной теоретической химии» 68 31–49 (1959)
78.70.Gq, 76.30.−v, 76.60.Cq, 76.60.Gv, 82.30.−b ()
|
© Успехи физических наук, 1918–2024 Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение |