Выпуски

 / 

1972

 / 

Февраль

  

Обзоры актуальных проблем


Электронная микроскопия магнитной структуры тонких пленок

Содержание: Режим работы просвечивающего микроскопа при отображении магнитной структуры ТМП. Контраст изображения магнитных структур. Изучение структуры доменных границ. Тонкая структура намагниченности внутри доменов (рябь намагниченности). Статические доменные структуры. Исследование перемагничивания пленок. Цитированная литература.

Текст: pdf
Войдите или зарегистрируйтесь чтобы получить доступ к полным текстам статей.
PACS: 75.25.+z, 75.70.Ak, 68.37.Lp, 75.60.Ch, 75.60.Ej (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0106.197202b.0229
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1972/2/b/
Цитата: Петров В И, Спивак Г В, Павлюченко О П "Электронная микроскопия магнитной структуры тонких пленок" УФН 106 229–278 (1972)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

English citation: Petrov V I, Spivak G V, Pavlyuchenko O P “Electron microscopy of the magnetic structure of thin filmsSov. Phys. Usp. 15 66–94 (1972); DOI: 10.1070/PU1972v015n01ABEH004946

© Успехи физических наук, 1918–2019
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение