Выпуски

 / 

2019

 / 

февраль

←  →

Приборы и методы исследований


Метод времяразрешающего рентгенодифракционного картирования обратного пространства в условиях воздействия электрического поля на кристалл

 а, б,  а, б,  а, б,  а, б,  а, б,  а, б
а Федеральный научно-исследовательский центр "Кристаллография и фотоника" РАН, Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова РАН, Ленинский просп. 59, Москва, 119333, Российская Федерация
б Национальный исследовательский центр «Курчатовский институт», пл. Академика Курчатова 1, Москва, 123182, Российская Федерация

Разработана и впервые реализована рентгеновская методика картирования обратного пространства в трёхосевой геометрии дифракции с временным разрешением на лабораторном источнике излучения. Методика позволяет изучать протекающие в образце под влиянием внешних воздействий процессы, вызывающие обратимые деформации его кристаллической решётки, разграничивать эти процессы во времени, а также разделять разные виды деформаций, возникающих в кристалле в результате этих воздействий. Суть методики заключается в измерении временных зависимостей интенсивности для каждой точки обратного пространства в окрестности дифракционного максимума в трёхосевой геометрии дифракции при повторяющемся и идентичном по своей структуре воздействии на образец электрическим полем высокой напряжённости, с последующим построением эволюции во времени двумерной карты обратного пространства. Временное разрешение достигается благодаря быстродействующему многоканальному анализатору интенсивности, синхронизованному с высоковольтным источником напряжения. Продемонстрированы результаты измерения дифракционных карт обратного пространства на лабораторном источнике излучения для пьезоэлектрического кристалла лантан-галлиевого силиката при воздействии на него внешним электрическим полем напряжённостью 3,08 кВ мм−1, близкой к пробойной, с временным разрешением до 10 мс.

Текст pdf (292 Кб)
English fulltext is available at DOI: 10.3367/UFNe.2018.06.038348
Ключевые слова: времяразрешающая методика, карта обратного пространства, трёхкристальная рентгеновская дифрактометрия, внешнее электрическое поле, пьезоэффект, лангасит
PACS: 06.60.Jn
DOI: 10.3367/UFNr.2018.06.038348
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2019/2/d/
000466030200004
2-s2.0-85064744587
2019PhyU...62..179M
Цитата: Марченков Н В, Куликов А Г, Аткнин И И, Петренко А А, Благов А Е, Ковальчук М В "Метод времяразрешающего рентгенодифракционного картирования обратного пространства в условиях воздействия электрического поля на кристалл" УФН 189 187–194 (2019)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

поступила: 15 января 2018, доработана: 6 мая 2018, 6 июня 2018

English citation: Marchenkov N V, Kulikov A G, Atknin I I, Petrenko A A, Blagov A E, Kovalchuk M V “Time-resolved X-ray reciprocal space mapping of the crystal under external electric field” Phys. Usp. 62 179–185 (2019); DOI: 10.3367/UFNe.2018.06.038348

Список литературы (24) Статьи, ссылающиеся на эту (13) Похожие статьи (20) ↓

  1. А.И. Проценко, Я.А. Элиович и др. «Исследование динамики реакции Белоусова—Жаботинского методом времяразрешающей рентгеновской спектроскопии поглощения с использованием адаптивных элементов рентгеновской оптики» УФН 193 1335–1339 (2023)
  2. В.В. Лидер «Метод накачки и рентгеновского зондирования» УФН 195 962–981 (2025)
  3. А.И. Проценко, А.Е. Благов и др. «Реализация метода QEXAFS с использованием адаптивных элементов рентгеновской оптики» УФН 191 88–92 (2021)
  4. Е.Н. Рагозин, Е.А. Вишняков и др. «Спектрометры для мягкого рентгеновского диапазона на основе апериодических отражательных решёток и их применение» УФН 191 522–542 (2021)
  5. Г.В. Мурастов, А.А. Липовка и др. «Лазерное восстановление оксида графена: локальное управление свойствами материала» УФН 193 1173–1204 (2023)
  6. Р.А. Ганеев «Генерация высших гармоник излучения мощных лазеров в плазме, образованной при воздействии предымпульса на поверхность твердотельных мишеней» УФН 179 65–90 (2009)
  7. И.И. Собельман, В.Н. Сорокин «Об экспериментах по обнаружению Т-нечетного электрического дипольного момента атома 129Хе» УФН 175 979–994 (2005)
  8. М.П. Лорикян «Детекторы ядерного излучения и многозарядных частиц с рабочим веществом из пористых диэлектриков» УФН 165 1323–1333 (1995)
  9. М.Л. Шматов «Инициирование микровзрыва микровзрывом и некоторые другие сценарии управляемого термоядерного синтеза с безнейтронными реакциями» УФН 189 72–84 (2019)
  10. П.А. Мажаров, В.Г. Дудников, А.Б. Толстогузов «Электрогидродинамические источники ионных пучков» УФН 190 1293–1333 (2020)
  11. В.В. Лидер «Рентгеновская флуоресцентная визуализация» УФН 188 1081–1102 (2018)
  12. К.В. Жуковский «Излучение ондуляторов и лазеров на свободных электронах с аналитическим учётом гармоник поля и внеосевых эффектов» УФН 191 318–330 (2021)
  13. П.В. Зинин, К.М. Булатов и др. «Дистанционное измерение распределения температуры на поверхности твёрдых тел при воздействии мощного лазерного излучения» УФН 192 913–925 (2022)
  14. А.С. Пирожков, Е.Н. Рагозин «Апериодические многослойные структуры в оптике мягкого рентгеновского излучения» УФН 185 1203–1214 (2015)
  15. Л.В. Торопова, Д.В. Александров и др. «Метод электромагнитной левитации как техника беcконтейнерного эксперимента» УФН 193 770–782 (2023)
  16. В.В. Лидер «Рентгеновская рефракционная интроскопия» УФН 194 345–359 (2024)
  17. И.Е. Проценко, А.В. Усков «Фотоэмиссия из металлических наночастиц» УФН 182 543–554 (2012)
  18. М.М. Барышева, А.Е. Пестов и др. «Прецизионная изображающая многослойная оптика для мягкого рентгеновского и экстремального ультрафиолетового диапазонов» УФН 182 727–747 (2012)
  19. С.Ю. Меснянкин, А.Г. Викулов, Д.Г. Викулов «Современный взгляд на проблемы теплового контактирования твёрдых тел» УФН 179 945–970 (2009)
  20. Е.З. Гусаков, А.Ю. Попов «Теория рассеяния сильно рефрагирующих СВЧ-волн в турбулентной неоднородной плазме. Приложение теории к описанию флуктуационной рефлектометрии в термоядерных установках» УФН 190 1189–1216 (2020)

Список формируется автоматически.

© Успехи физических наук, 1918–2026
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение