Разработана и впервые реализована рентгеновская методика картирования обратного пространства в трёхосевой геометрии дифракции с временным разрешением на лабораторном источнике излучения. Методика позволяет изучать протекающие в образце под влиянием внешних воздействий процессы, вызывающие обратимые деформации его кристаллической решётки, разграничивать эти процессы во времени, а также разделять разные виды деформаций, возникающих в кристалле в результате этих воздействий. Суть методики заключается в измерении временных зависимостей интенсивности для каждой точки обратного пространства в окрестности дифракционного максимума в трёхосевой геометрии дифракции при повторяющемся и идентичном по своей структуре воздействии на образец электрическим полем высокой напряжённости, с последующим построением эволюции во времени двумерной карты обратного пространства. Временное разрешение достигается благодаря быстродействующему многоканальному анализатору интенсивности, синхронизованному с высоковольтным источником напряжения. Продемонстрированы результаты измерения дифракционных карт обратного пространства на лабораторном источнике излучения для пьезоэлектрического кристалла лантан-галлиевого силиката при воздействии на него внешним электрическим полем напряжённостью 3,08 кВ мм⁻¹, близкой к пробойной, с временным разрешением до 10 мс.

Ключевые слова: времяразрешающая методика, карта обратного пространства, трёхкристальная рентгеновская дифрактометрия, внешнее электрическое поле, пьезоэффект, лангасит PACS: 06.60.Jn DOI: 10.3367/UFNr.2018.06.038348 URL: https://ufn.ru/ru/articles/2019/2/d/ 000466030200004 2-s2.0-85064744587 2019PhyU...62..179M Цитата: Марченков Н В, Куликов А Г, Аткнин И И, Петренко А А, Благов А Е, Ковальчук М В "Метод времяразрешающего рентгенодифракционного картирования обратного пространства в условиях воздействия электрического поля на кристалл" УФН 189 187–194 (2019) BibTexBibNote ® (generic) BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks Русский English TY JOUR TI Метод времяразрешающего рентгенодифракционного картирования обратного пространства в условиях воздействия электрического поля на кристалл AU Марченков, Н. В. AU Куликов, А. Г. AU Аткнин, И. И. AU Петренко, А. А. AU Благов, А. Е. AU Ковальчук, М. В. PB Успехи физических наук PY 2019 JO Успехи физических наук JF Успехи физических наук JA Усп. физ. наук VL 189 IS 2 SP 187-194 UR https://ufn.ru/ru/articles/2019/2/d/ ER https://doi.org/10.3367/UFNr.2018.06.038348 Поступила: 15 января 2018, доработана: 6 мая 2018, одобрена в печать: 6 июня 2018 English citation: Marchenkov N V, Kulikov A G, Atknin I I, Petrenko A A, Blagov A E, Kovalchuk M V “Time-resolved X-ray reciprocal space mapping of the crystal under external electric field” Phys. Usp. 62 179–185 (2019); DOI: 10.3367/UFNe.2018.06.038348