 |
RSS-ленты |
|
|||||
| Выпуск 11, 2024 |
|
||||||
|
|
|
||||||
Указатель PACS
68.37.Ef Scanning tunneling microscopy (including chemistry induced with STM)
-
П.И. Арсеев, В.Н. Манцевич и др. «Особенности туннельных процессов в полупроводниковых наноструктурах» УФН 187 1147–1168 (2017)
05.60.Gg, 68.37.Ef, 73.40.Gk, 73.63.−b () -
Л.В. Арапкина, В.А. Юрьев «Классификация hut-кластеров Ge в массивах, формируемых на поверхности Si(001) методом молекулярно-лучевой эпитаксии при низких температурах» УФН 180 289–302 (2010)
68.37.Ef, 81.07.Ta, 81.15.Hi () -
А.А. Шкляев, М. Ичикава «Создание наноструктур германия и кремния с помощью зонда сканирующего туннельного микроскопа» УФН 176 913–930 (2006)
68.37.Ef, 79.70.+q, 81.16.Ta () -
В.С. Эдельман «Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия атомно-чистой поверхности висмута» УФН 175 1111–1115 (2005)
65.35.-p, 68.37.−d, 68.37.Ef () -
Н.С. Маслова «Физика и химия поверхности твердых тел» УФН 161 (4) 188–189 (1991)
68.37.Ef, 68.37.Ps, 68.47.Fg () -
В.С. Эдельман «Развитие сканирующей туннельной микроскопии» УФН 161 (3) 168–171 (1991)
07.79.Cz, 68.37.Ef, 72.40.+w, 78.55.Cr, 74.72.Bk, 78.67.Pt () -
В.И. Панов «Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия поверхности» УФН 155 155–158 (1988)
68.37.Ef, 66.30.Fq, 68.35.Bs, 68.47.De, 73.20.At () -
М.С. Хайкин «Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия» УФН 155 158–159 (1988)
68.37.Ef, 73.30.+y, 68.35.Bs, 74.72.Bk, 74.50.+r () -
В.М. Свистунов, М.А. Белоголовский, А.И. Дьяченко «Вакуумная туннельная микроскопия и спектроскопия» УФН 154 153–160 (1988)
07.79.Cz, 01.10.Cr, 68.37.Ef, 68.35.Bs, 74.25.Jb, 74.50.+r () -
И.П. Ревокатова, А.П. Силин «Вакуумная туннельная микроскопия — новый метод изучения поверхности твердых тел» УФН 142 159–162 (1984)
07.79.Cz, 68.37.Ef ()
|
© Успехи физических наук, 1918–2024 Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение |