Указатель PACS

68.37.Ef Scanning tunneling microscopy (including chemistry induced with STM) 81.07.Ta Quantum dots 81.15.Hi Molecular, atomic, ion, and chemical beam epitaxy
  1. П.И. Арсеев, В.Н. Манцевич и др. «Особенности туннельных процессов в полупроводниковых наноструктурах» 187 1147–1168 (2017)
    05.60.Gg, 68.37.Ef, 73.40.Gk, 73.63.−b (все)
  2. Л.В. Арапкина, В.А. Юрьев «Классификация hut-кластеров Ge в массивах, формируемых на поверхности Si(001) методом молекулярно-лучевой эпитаксии при низких температурах» 180 289–302 (2010)
    68.37.Ef, 81.07.Ta, 81.15.Hi (все)
  3. А.А. Шкляев, М. Ичикава «Создание наноструктур германия и кремния с помощью зонда сканирующего туннельного микроскопа» 176 913–930 (2006)
    68.37.Ef, 79.70.+q, 81.16.Ta (все)
  4. В.С. Эдельман «Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия атомно-чистой поверхности висмута» 175 1111–1115 (2005)
    65.35.-p, 68.37.−d, 68.37.Ef (все)
  5. О.П. Пчеляков «Молекулярно-лучевая эпитаксия: оборудование, приборы, технология» 170 993–995 (2000)
    07.07.−a, 81.15.Hi, 85.30.−z (все)
  6. А.В. Латышев, А.Л. Асеев «Моноатомные ступени на поверхности кремния» 168 1117–1127 (1998)
    68.35.p, 68.55.a, 81.15.Hi
  7. Н.С. Маслова «Физика и химия поверхности твердых тел» 161 (4) 188–189 (1991)
    68.37.Ef, 68.37.Ps, 68.47.Fg (все)
  8. В.С. Эдельман «Развитие сканирующей туннельной микроскопии» 161 (3) 168–171 (1991)
    07.79.Cz, 68.37.Ef, 72.40.+w, 78.55.Cr, 74.72.Bk, 78.67.Pt (все)
  9. В.И. Панов «Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия поверхности» 155 155–158 (1988)
    68.37.Ef, 66.30.Fq, 68.35.Bs, 68.47.De, 73.20.At (все)
  10. М.С. Хайкин «Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия» 155 158–159 (1988)
    68.37.Ef, 73.30.+y, 68.35.Bs, 74.72.Bk, 74.50.+r (все)
  11. В.М. Свистунов, М.А. Белоголовский, А.И. Дьяченко «Вакуумная туннельная микроскопия и спектроскопия» 154 153–160 (1988)
    07.79.Cz, 01.10.Cr, 68.37.Ef, 68.35.Bs, 74.25.Jb, 74.50.+r (все)
  12. О.П. Заскалько «Пикосекундная электроника и оптоэлектроника» 151 732–733 (1987)
    01.30.Vv, 01.30.Ee, 85.60.−q, 85.30.−z, 81.15.Gh, 81.15.Hi (все)
  13. И.П. Ревокатова, А.П. Силин «Вакуумная туннельная микроскопия — новый метод изучения поверхности твердых тел» 142 159–162 (1984)
    07.79.Cz, 68.37.Ef (все)
© Успехи физических наук, 1918–2019
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение