68.37.Ef Scanning tunneling microscopy (including chemistry induced with STM)
81.07.Ta Quantum dots
81.15.Hi Molecular, atomic, ion, and chemical beam epitaxy
П.И. Арсеев, В.Н. Манцевич и др. «Особенности туннельных процессов в полупроводниковых наноструктурах » 187 1147–1168 (2017)
05.60.Gg , 68.37.Ef , 73.40.Gk , 73.63.−b (все )
Л.В. Арапкина, В.А. Юрьев «Классификация hut-кластеров Ge в массивах, формируемых на поверхности Si(001) методом молекулярно-лучевой эпитаксии при низких температурах » 180 289–302 (2010)
68.37.Ef , 81.07.Ta , 81.15.Hi (все )
А.А. Шкляев, М. Ичикава «Создание наноструктур германия и кремния с помощью зонда сканирующего туннельного микроскопа » 176 913–930 (2006)
68.37.Ef , 79.70.+q , 81.16.Ta (все )
В.С. Эдельман «Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия атомно-чистой поверхности висмута » 175 1111–1115 (2005)
65.35.-p, 68.37.−d , 68.37.Ef (все )
О.П. Пчеляков «Молекулярно-лучевая эпитаксия: оборудование, приборы, технология » 170 993–995 (2000)
07.07.−a , 81.15.Hi , 85.30.−z (все )
А.В. Латышев, А.Л. Асеев «Моноатомные ступени на поверхности кремния » 168 1117–1127 (1998)
68.35.p, 68.55.a, 81.15.Hi
Н.С. Маслова «Физика и химия поверхности твердых тел » 161 (4) 188–189 (1991)
68.37.Ef , 68.37.Ps , 68.47.Fg (все )
В.С. Эдельман «Развитие сканирующей туннельной микроскопии » 161 (3) 168–171 (1991)
07.79.Cz , 68.37.Ef , 72.40.+w , 78.55.Cr , 74.72.Bk , 78.67.Pt (все )
В.И. Панов «Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия поверхности » 155 155–158 (1988)
68.37.Ef , 66.30.Fq , 68.35.Bs , 68.47.De , 73.20.At (все )
М.С. Хайкин «Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия » 155 158–159 (1988)
68.37.Ef , 73.30.+y , 68.35.Bs , 74.72.Bk , 74.50.+r (все )
В.М. Свистунов, М.А. Белоголовский, А.И. Дьяченко «Вакуумная туннельная микроскопия и спектроскопия » 154 153–160 (1988)
07.79.Cz , 01.10.Cr , 68.37.Ef , 68.35.Bs , 74.25.Jb , 74.50.+r (все )
О.П. Заскалько «Пикосекундная электроника и оптоэлектроника » 151 732–733 (1987)
01.30.Vv , 01.30.Ee , 85.60.−q , 85.30.−z , 81.15.Gh , 81.15.Hi (все )
И.П. Ревокатова, А.П. Силин «Вакуумная туннельная микроскопия — новый метод изучения поверхности твердых тел » 142 159–162 (1984)
07.79.Cz , 68.37.Ef (все )