Выпуски

 / 

1984

 / 

Январь

  

Из текущей литературы


Вакуумная туннельная микроскопия — новый метод изучения поверхности твердых тел

В последнее время заметно возрос интерес к изучению поверхности твердых тел. Это в свою очередь привело к появлению новых методов и приборов для исследования поверхности. В настоящей заметке мы кратко рассмотрим появившийся совсем недавно принципиально новый метод исследования поверхности, получивший название вакуумной туннельной микроскопии.

Текст: pdf
Войдите или зарегистрируйтесь чтобы получить доступ к полным текстам статей.
PACS: 07.79.Cz, 68.37.Ef (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0142.198401g.0159
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1984/1/g/
Цитата: Ревокатова И П, Силин А П "Вакуумная туннельная микроскопия — новый метод изучения поверхности твердых тел" УФН 142 159–162 (1984)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

English citation: Revokatova I P, Silin A P “Scanning tunneling microscopy: new method for studying solid surfacesSov. Phys. Usp. 27 76–78 (1984); DOI: 10.1070/PU1984v027n01ABEH004022

© Успехи физических наук, 1918–2019
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение