07.79.Cz Scanning tunneling microscopes
-
В.С. Эдельман «Низкотемпературная сканирующая тунельная микроскопия» УФН 170 995–996 (2000)
07.20.Mc, 07.79.−v, 07.79.Cz, 68.35.Bs (все)
-
А.А. Бухараев «Исследование с помощью сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии поверхностей, модифицированных ионными и лазерными пучками» УФН 166 210–213 (1996)
07.79.Cz, 07.79.Lh, 42.62.Hk (все)
-
В.С. Эдельман «Развитие сканирующей туннельной микроскопии» УФН 161 (3) 168–171 (1991)
07.79.Cz, 68.37.Ef, 72.40.+w, 78.55.Cr, 74.72.Bk, 78.67.Pt (все)
-
В.М. Свистунов, М.А. Белоголовский, А.И. Дьяченко «Вакуумная туннельная микроскопия и спектроскопия» УФН 154 153–160 (1988)
07.79.Cz, 01.10.Cr, 68.37.Ef, 68.35.Bs, 74.25.Jb, 74.50.+r (все)
-
И.П. Ревокатова, А.П. Силин «Вакуумная туннельная микроскопия — новый метод изучения поверхности твердых тел» УФН 142 159–162 (1984)
07.79.Cz, 68.37.Ef (все)
|