RSS-ленты
РусскийEnglish
Выпуск 10, 2026
Том год страница
Выпуски Авторы PACS Подписчикам Для авторов

Выпуски

 / 

1997

 / 

март

←  →

Приборы и методы исследований


Сканирующая туннельная микроскопия фуллеренов на поверхности металлов и полупроводников

 а,  б,  в,  в
а Башкирский государственный университет, Уфа, Российская Федерация
б Hitachi Advanced Research Laboratory, Hitachi Ltd., Hatoyama, Saitama, Japan
в Institute for Materials Research, Tohoku University, 2-1-1 Katahira, Sendai, 980-77, Japan

Представлен обзор современного состояния работ по сверхвысоковакуумной сканирующей туннельной микроскопии (СТМ) молекул фуллеренов с использованием результатов исследований авторов. Основное внимание уделено рассмотрению взаимодействия фуллеренов C60, C70 и их смеси с поверхностями полупроводников (Si(111)-7 \times 7 и Si(100)-2 \times 1) и металлов (Cu(111)-1 \times 1 и Ag(111)-1 \times 1). Использование СТМ позволило осуществить прямое наблюдение адсорбционной геометрии фуллеренов и соответствующей реконструкции поверхности, а на изображениях с высоким разрешением — обнаружить внутримолекулярные структуры, которые проанализированы теоретически с привлечением модели локального распределения заряда. Приведены и обсуждаются результаты исследования упорядоченного роста пленок фуллеренов на поверхности металлов и полупроводников.

Текст pdf (981 Кб)
English fulltext is available at DOI: 10.1070/PU1997v040n03ABEH000213
PACS: 68.35.Bs, 61.16.Ch, 61.46.+w, 68.65.+g (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0167.199703e.0289
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1997/3/e/
A1997WU37100005
Цитата: Бахтизин Р З, Хашицуме Т, Вонг Ш, Сакурай Т "Сканирующая туннельная микроскопия фуллеренов на поверхности металлов и полупроводников" УФН 167 289–307 (1997)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

English citation: Bakhtizin R Z, Hashizume T, Wang Sh, Sakurai T “Scanning tunneling microscopy of fullerenes on metal and semiconductor surfaces” Phys. Usp. 40 275–290 (1997); DOI: 10.1070/PU1997v040n03ABEH000213

Список литературы (85) Статьи, ссылающиеся на эту (13) Похожие статьи (20) ↓

  1. Р.З. Бахтизин, Т. Хашицуме и др. «Атомные структуры на поверхности GaAs(001), выращенной методами молекулярно-лучевой эпитаксии» УФН 167 1227–1241 (1997)
  2. Д.В. Казанцев, Е.А. Казанцева «Безапертурная ближнепольная микроскопия упругого рассеяния света» УФН 194 630–673 (2024)
  3. В.В. Лидер «Рентгеновская микроскопия» УФН 187 201–219 (2017)
  4. М.Л. Шматов «Инициирование микровзрыва микровзрывом и некоторые другие сценарии управляемого термоядерного синтеза с безнейтронными реакциями» УФН 189 72–84 (2019)
  5. А.А. Бабад-Захряпин, Н.С. Горбунов, В.И. Извеков «Экспериментальные методы изучения дифракции медленных электронов» УФН 77 727–748 (1962)
  6. Н.М. Блашенков, Г.Я. Лаврентьев «Исследование неравновесной поверхностной ионизации методом полевой поверхностно-ионизационной масс-спектрометрии» УФН 177 59–85 (2007)
  7. Я.С. Гринберг, Ю.А. Пашкин, Е.В. Ильичёв «Наномеханические резонаторы» УФН 182 407–436 (2012)
  8. О.В. Верходанов, А.Г. Дорошкевич «Системы пикселизации неба для анализа протяжённого излучения» УФН 183 849–862 (2013)
  9. Е.Б. Левичев, А.Н. Скринский и др. «Прецизионное измерение масс элементарных частиц на коллайдере ВЭПП-4М с детектором "Кедр"» УФН 184 75–88 (2014)
  10. В.А. Гаспаров «Исследования поверхности Ферми металлов с помощью высокочастотных размерных эффектов» УФН 188 311–324 (2018)
  11. В.В. Лидер «Рентгеновская флуоресцентная визуализация» УФН 188 1081–1102 (2018)
  12. И.Ю. Ерёмчев, Д.В. Прокопова и др. «Трёхмерная флуоресцентная наноскопия одиночных квантовых излучателей на основе оптики спиральных пучков света» УФН 192 663–673 (2022)
  13. П.В. Зинин, К.М. Булатов и др. «Дистанционное измерение распределения температуры на поверхности твёрдых тел при воздействии мощного лазерного излучения» УФН 192 913–925 (2022)
  14. С.А. Баренгольц, Г.А. Месяц «Взрывоэмиссионные процессы в термоядерных установках с магнитным удержанием плазмы и линейных электрон-позитронных коллайдерах» УФН 193 751–769 (2023)
  15. М.И. Ломаев, В.С. Скакун и др. «Эксилампы — эффективные источники спонтанного УФ- и ВУФ-излучения» УФН 173 201–217 (2003)
  16. И.П. Еремеев «Электрофотоядерный энергетический цикл» УФН 174 1319–1335 (2004)
  17. А.Д. Алексеев, Е.В. Ульянова, Т.А. Василенко «Возможности ЯМР в исследовании физических процессов в ископаемых углях» УФН 175 1217–1232 (2005)
  18. А.Д. Погребняк, Ю.Н. Тюрин «Модификация свойств материалов и осаждение покрытий с помощью плазменных струй» УФН 175 515–544 (2005)
  19. Р.А. Ганеев «Генерация высших гармоник излучения мощных лазеров в плазме, образованной при воздействии предымпульса на поверхность твердотельных мишеней» УФН 179 65–90 (2009)
  20. А.Д. Погребняк, А.Г. Пономарев и др. «Применение микро- и нанозондов для анализа малоразмерных 3D материалов, наносистем и нанообъектов» УФН 182 287–321 (2012)

Список формируется автоматически.
© Успехи физических наук, 1918–2026
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение