Зеркальная электронная микроскопия

Содержание: 1. Введение. 2. Электронное зеркало и зеркальный электронный микроскоп. 3. Конструкции зеркальных электронных микроскопов. 4. Режимы работы зеркального микроскопа. 5. Отображение геометрического рельефа и электрических микрополей. 6. Разрешение и чувствительность зеркального микроскопа. 7. Отображение магнитных микрополей. 8. Применение ЗЭМ в физических исследованиях. а) Исследование контактных полей и полупроводников.. б) Исследование диэлектриков. в) Визуализация и измерение магнитных полей. Цитированная литература

Текст pdf (4,7 Мб)

Скачивая файл я соглашаюсь с условиями использования.

English fulltext is available at DOI: 10.1070/PU1974v016n04ABEH005299

PACS: 07.78.+s, 68.37.−d (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0110.197308g.0623
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1973/8/g/
Цитата: Лукьянов А Е, Спивак Г В, Гвоздовер Р С "Зеркальная электронная микроскопия" УФН 110 623–668 (1973)

BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)Medline

RefWorks

Русский

English

RT Journal
T1 Зеркальная электронная микроскопия
A1 Лукьянов,А.Е.
A1 Спивак,Г.В.
A1 Гвоздовер,Р.С.
PB Успехи физических наук
PY 1973
FD 10 Aug, 1973
JF Успехи физических наук
JO Усп. физ. наук
VO 110
IS 8
SP 623-668
DO 10.3367/UFNr.0110.197308g.0623
LK https://ufn.ru/ru/articles/1973/8/g/

English citation: Luk’yanov A E, Spivak G V, Gvozdover R S “Mirror electron microscopy” Sov. Phys. Usp. 16 529–552 (1974); DOI: 10.1070/PU1974v016n04ABEH005299