Зеркальная электронная микроскопия

Содержание: 1. Введение. 2. Электронное зеркало и зеркальный электронный микроскоп. 3. Конструкции зеркальных электронных микроскопов. 4. Режимы работы зеркального микроскопа. 5. Отображение геометрического рельефа и электрических микрополей. 6. Разрешение и чувствительность зеркального микроскопа. 7. Отображение магнитных микрополей. 8. Применение ЗЭМ в физических исследованиях. а) Исследование контактных полей и полупроводников.. б) Исследование диэлектриков. в) Визуализация и измерение магнитных полей. Цитированная литература

Текст pdf (4,7 Мб)

Скачивая файл я соглашаюсь с условиями использования.

English fulltext is available at DOI: 10.1070/PU1974v016n04ABEH005299

PACS: 07.78.+s, 68.37.−d (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0110.197308g.0623
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1973/8/g/
Цитата: Лукьянов А Е, Спивак Г В, Гвоздовер Р С "Зеркальная электронная микроскопия" УФН 110 623–668 (1973)

BibTex

BibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

Русский

English

%0 Journal Article
%T Зеркальная электронная микроскопия
%A А. Е. Лукьянов
%A Г. В. Спивак
%A Р. С. Гвоздовер
%I Успехи физических наук
%D 1973
%J Усп. физ. наук
%V 110
%N 8
%P 623-668
%U https://ufn.ru/ru/articles/1973/8/g/
%U https://doi.org/10.3367/UFNr.0110.197308g.0623

English citation: Luk’yanov A E, Spivak G V, Gvozdover R S “Mirror electron microscopy” Sov. Phys. Usp. 16 529–552 (1974); DOI: 10.1070/PU1974v016n04ABEH005299