Выпуски

 / 

1973

 / 

Август

  

Новые приборы и методы измерений


Зеркальная электронная микроскопия

Содержание: 1. Введение. 2. Электронное зеркало и зеркальный электронный микроскоп. 3. Конструкции зеркальных электронных микроскопов. 4. Режимы работы зеркального микроскопа. 5. Отображение геометрического рельефа и электрических микрополей. 6. Разрешение и чувствительность зеркального микроскопа. 7. Отображение магнитных микрополей. 8. Применение ЗЭМ в физических исследованиях. а) Исследование контактных полей и полупроводников.. б) Исследование диэлектриков. в) Визуализация и измерение магнитных полей. Цитированная литература

Текст pdf (4,7 Мб)
PACS: 07.78.+s, 68.37.−d (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0110.197308g.0623
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1973/8/g/
Цитата: Лукьянов А Е, Спивак Г В, Гвоздовер Р С "Зеркальная электронная микроскопия" УФН 110 623–668 (1973)
BibTexBibNote ® (generic) BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks
Русский English
TY JOUR
TI Зеркальная электронная микроскопия
AU Лукьянов, А. Е.
AU Спивак, Г. В.
AU Гвоздовер, Р. С.
PB Успехи физических наук
PY 1973
JO Успехи физических наук
JF Успехи физических наук
JA Усп. физ. наук
VL 110
IS 8
SP 623-668
UR https://ufn.ru/ru/articles/1973/8/g/
ER https://doi.org/10.3367/UFNr.0110.197308g.0623

English citation: Luk’yanov A E, Spivak G V, Gvozdover R S “Mirror electron microscopySov. Phys. Usp. 16 529–552 (1974); DOI: 10.1070/PU1974v016n04ABEH005299

© Успехи физических наук, 1918–2024
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение