RSS-ленты
РусскийEnglish
Выпуск 11, 2024
Том год страница
Выпуски Авторы PACS Подписчикам Для авторов

Выпуски

 / 

1973

 / 

Август

←  →

Новые приборы и методы измерений


Зеркальная электронная микроскопия

, ,

Содержание: 1. Введение. 2. Электронное зеркало и зеркальный электронный микроскоп. 3. Конструкции зеркальных электронных микроскопов. 4. Режимы работы зеркального микроскопа. 5. Отображение геометрического рельефа и электрических микрополей. 6. Разрешение и чувствительность зеркального микроскопа. 7. Отображение магнитных микрополей. 8. Применение ЗЭМ в физических исследованиях. а) Исследование контактных полей и полупроводников.. б) Исследование диэлектриков. в) Визуализация и измерение магнитных полей. Цитированная литература

Текст pdf (4,7 Мб)
English fulltext is available at DOI: 10.1070/PU1974v016n04ABEH005299
PACS: 07.78.+s, 68.37.−d (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0110.197308g.0623
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1973/8/g/
Цитата: Лукьянов А Е, Спивак Г В, Гвоздовер Р С "Зеркальная электронная микроскопия" УФН 110 623–668 (1973)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

English citation: Luk’yanov A E, Spivak G V, Gvozdover R S “Mirror electron microscopy” Sov. Phys. Usp. 16 529–552 (1974); DOI: 10.1070/PU1974v016n04ABEH005299

Статьи, ссылающиеся на эту (34) ↓ Похожие статьи (5)

  1. Milani M, Curia R et al Bacterial Degradation of Organic and Inorganic Materials Chapter 2 (2023) p. 21
  2. Milani M, Curia R et al Bacterial Degradation of Organic and Inorganic Materials Chapter 6 (2023) p. 87
  3. Abedzadeh N, Krielaart M A R et al Ultramicroscopy 226 113304 (2021)
  4. Tromp R Springer Handbook of Microscopy Springer Handbooks Chapter 11 (2019) p. 565
  5. KENNEDY S M, ZHENG C X, JESSON D E Surf. Rev. Lett. 25 1950013 (2018)
  6. Principles of Electron Optics (2018) p. 627
  7. Principles of Electron Optics (2018) p. 1297
  8. Kennedy S M, Zheng C X, Jesson D E Nanoscale Res Lett 12 (1) (2017)
  9. Yeh P-Ch, Jin W et al Phys. Rev. B 89 (15) (2014)
  10. Bauer E Surface Microscopy with Low Energy Electrons Chapter 7 (2014) p. 409
  11. Bauer E Surface Microscopy with Low Energy Electrons Chapter 1 (2014) p. 1
  12. Bauer E Surface Microscopy with Low Energy Electrons Chapter 4 (2014) p. 189
  13. Qi B, Ólafsson S et al Applied Surface Science 264 349 (2013)
  14. Kennedy S M, Hjort M et al Nanotechnology 23 125703 (2012)
  15. Bauer E Handbook of Nanoscopy 1 (2012) p. 697
  16. Bauer E Handbook of Nanoscopy 1 (2012) p. 673
  17. Okamoto H Phys. Rev. A 85 (4) (2012)
  18. Hawkes P W Ultramicroscopy 119 9 (2012)
  19. Kennedy S M, Zheng C X et al Proc. R. Soc. A. 467 3332 (2011)
  20. Kennedy S M, Zheng C X et al Ultramicroscopy 111 356 (2011)
  21. Okamoto H Phys. Rev. A 81 (4) (2010)
  22. Kennedy S M, Zheng C X et al Proc. R. Soc. A. 466 2857 (2010)
  23. Kennedy S M, Jesson D E et al Phys. Rev. A 74 (4) (2006)
  24. Principles of Electron Optics (1996) p. 1103
  25. Godehardt R Advances in Imaging and Electron Physics Vol. 94 (1995) p. 81
  26. Świȩch W, Rausenberger B et al Surface Science 294 297 (1993)
  27. Rempfer G F, Hayes G O Ultramicroscopy 47 35 (1992)
  28. Hayes G O, Engel W Ultramicroscopy 36 1 (1991)
  29. Unertl W N, Shern C S MRS Proc. 208 (1990)
  30. Principles of Electron Optics (1989) p. 1103
  31. Yakushev E M, Sekunova L M Advances in Electronics and Electron Physics Vol. Advances in Electronics and Electron Physics Volume 68Theory of Electron Mirrors and Cathode Lenses68 (1986) p. 337
  32. Dupuy J C, Sibai A, Vilotitch B Surface Science 147 191 (1984)
  33. Bethge H, Heydenreich J Elektronenmikroskopie in der Festkörperphysik Chapter 8 (1982) p. 186
  34. Venables J A Ultramicroscopy 7 81 (1981)
© Успехи физических наук, 1918–2024
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение