Зеркальная электронная микроскопия

Содержание: 1. Введение. 2. Электронное зеркало и зеркальный электронный микроскоп. 3. Конструкции зеркальных электронных микроскопов. 4. Режимы работы зеркального микроскопа. 5. Отображение геометрического рельефа и электрических микрополей. 6. Разрешение и чувствительность зеркального микроскопа. 7. Отображение магнитных микрополей. 8. Применение ЗЭМ в физических исследованиях. а) Исследование контактных полей и полупроводников.. б) Исследование диэлектриков. в) Визуализация и измерение магнитных полей. Цитированная литература

Текст pdf (4,7 Мб)

Скачивая файл я соглашаюсь с условиями использования.

English fulltext is available at DOI: 10.1070/PU1974v016n04ABEH005299

PACS: 07.78.+s, 68.37.−d (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0110.197308g.0623
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1973/8/g/
Цитата: Лукьянов А Е, Спивак Г В, Гвоздовер Р С "Зеркальная электронная микроскопия" УФН 110 623–668 (1973)

BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)Medline

RefWorks

Русский

English

RT Journal
T1 Mirror electron microscopy
A1 Luk’yanov,A.E.
A1 Spivak,G.V.
A1 Gvozdover,R.S.
PB Uspekhi Fizicheskikh Nauk
PY 1973
FD 10 Aug, 1973
JF Uspekhi Fizicheskikh Nauk
JO Usp. Fiz. Nauk
VO 110
IS 8
SP 623-668
DO 10.3367/UFNr.0110.197308g.0623
LK https://ufn.ru/ru/articles/1973/8/g/

English citation: Luk’yanov A E, Spivak G V, Gvozdover R S “Mirror electron microscopy” Sov. Phys. Usp. 16 529–552 (1974); DOI: 10.1070/PU1974v016n04ABEH005299