 |
RSS-ленты |
|
Вход →
|
||||
| Выпуск 3, 2025 | Получить статью → | ||||||
|
|
Поиск → | ||||||
Указатель PACS
68.37.−d Microscopy of surfaces, interfaces, and thin films
68.37.Hk Scanning electron microscopy (SEM) (including EBIC)
-
И.Г. Дьячкова, Д.А. Золотов и др. «Возможности СВЧ-метода активации углеродных материалов в сравнении с традиционным термическим» УФН 193 1325–1334 (2023)
61.05.C−, 68.37.Hk, 68.37.Lp, 78.70.Gq () -
Б.М. Смирнов «Процессы с участием кластеров и малых частиц в буферном газе» УФН 181 713–745 (2011)
36.40.−c, 36.40.Sx, 61.43.Hv, 64.70.D−, 68.37.Hk () -
М.В. Кузнецов, А.С. Разинкин, А.Л. Ивановский «Оксидные наноструктуры на поверхности ниобия и родственные системы: эксперименты и ab initio расчёты» УФН 180 1035–1054 (2010)
68.03.Hj, 68.35.B−, 68.35.Fx, 68.37.−d, 73.20.−r, 79.60.−i () -
В.И. Крауз, Ю.В. Мартыненко и др. «Наноструктуры в установках управляемого термоядерного синтеза» УФН 180 1055–1080 (2010)
52.27.Lw, 52.55.Fa, 68.37.−d () -
В.С. Эдельман «Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия атомно-чистой поверхности висмута» УФН 175 1111–1115 (2005)
65.35.-p, 68.37.−d, 68.37.Ef () -
Н.С. Маслова, В.И. Панов «Сканирующая туннельная микроскопия атомной структуры, электронных свойств и поверхностных химических реакций» УФН 157 185–195 (1989)
68.37.Hk, 68.35.Bs, 73.20.At, 68.43.−h, 82.65.+r () -
В.Г. Дюков «Растровая электронная микроскопия: физика формирования изображений и микроанализа» УФН 152 357–358 (1987)
68.37.Hk -
Г.В. Спивак, Г.В. Сапарин, М.К. Антошин «Цветной контраст в растровой электронной микроскопии» УФН 113 695–699 (1974)
68.37.Hk, 78.60.Hk, 07.68.+m () -
А.Е. Лукьянов, Г.В. Спивак, Р.С. Гвоздовер «Зеркальная электронная микроскопия» УФН 110 623–668 (1973)
07.78.+s, 68.37.−d () -
В.И. Петров, Г.В. Спивак, О.П. Павлюченко «Электронная микроскопия магнитных структур массивных объектов» УФН 102 529–548 (1970)
75.25.+z, 75.60.Ch, 68.37.−d () -
Г.В. Спивак, Г.В. Сапарин, М.В. Быков «Растровая электронная микроскопия» УФН 99 635–672 (1969)
07.78.+s, 68.37.Hk, 78.60.Hk, 61.72.Ff, 87.64.Ee () -
Э.И. Рау, С.В. Зайцев «Эффект увеличения коэффициента обратнорассеянных электронов на многослойных наноструктурах и инверсия контраста изображений в сканирующей электронной микроскопии» УФН, принята к публикации
68.37.−d, 68.37.Hk ()
|
© Успехи физических наук, 1918–2025 Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение |