Рентгеновские дифракционные методы структурной диагностики материалов: прогресс и достижения
Г.В. Фетисов Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова, химический факультет, Ленинские горы д. 1 стр. 3, Москва, 119991, Российская Федерация
Описано развитие рентгеновской дифрактометрии для структурных исследований с использованием как традиционных непрерывно излучающих генераторов рентгеновских лучей, так и новейших источников ультракоротких и ультраярких рентгеновских импульсов, позволяющих исследовать структурную динамику конденсированного вещества в 4D пространственно-временнóм континууме с разрешением вплоть до десятых долей фемтосекунды. Обсуждаются новые технические средства, повышающие чувствительность, точность и оперативность рентгеновских дифракционных экспериментов: новые и перспективные источники рентгеновских лучей, отражательная коллимирующая и фокусирующая рентгеновская оптика, быстрые малошумящие и радиационно-стойкие координатные рентгеновские детекторы, а также рентгеновские дифрактометры нового поколения, построенные на основе этих элементов. Наибольшее внимание уделяется современным техническим средствам, обеспечивающим проведение в университетских и производственных лабораториях рентгеновских дифракционных исследований материалов, которые ранее считались возможными только на синхротронном излучении в международных центрах коллективного пользования.
Ключевые слова: рентгеновские дифракционные методы, рентгеноструктурный анализ, рентгеновские дифрактометры, импульсные источники рентгеновских лучей, лазерно-плазменные источники рентгеновских лучей, альтернативные источники рентгеновских лучей, рентгеновские лазеры на свободных электронах, отражательная рентгеновская оптика, многослойные тонкоплёночные рентгеновские отражатели, полупроводниковые позиционно-чувствительные рентгеновские детекторы, двумерные гибридные пиксельные детекторы PACS:07.85.−m, 42.55.Vc, 61.05.C− () DOI: URL: https://ufn.ru/ru/articles/2020/1/b/ 000537855600002 2-s2.0-85085127893 2020PhyU...63....2F Цитата: Фетисов Г В "Рентгеновские дифракционные методы структурной диагностики материалов: прогресс и достижения" УФН190 2–36 (2020)
BibTex
English
@article{Fetisov:2020,author = {G. V. Fetisov},title = {X-ray diffraction methods for structural diagnostics of materials: progress and achievements},publisher = {Uspekhi Fizicheskikh Nauk},year = {2020},journal = {Usp. Fiz. Nauk},volume = {190},number = {1},pages = {2-36},url = {https://ufn.ru/ru/articles/2020/1/b/},doi = {10.3367/UFNr.2018.10.038435}}
Поступила: 10 августа 2018, доработана: 15 сентября 2018, одобрена в печать: 4 октября 2018