Выпуски

 / 

2020

 / 

Январь

  

Обзоры актуальных проблем


Рентгеновские дифракционные методы структурной диагностики материалов: прогресс и достижения


Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова, химический факультет, Ленинские горы д. 1 стр. 3, Москва, 119991, Российская Федерация

Описано развитие рентгеновской дифрактометрии для структурных исследований с использованием как традиционных непрерывно излучающих генераторов рентгеновских лучей, так и новейших источников ультракоротких и ультраярких рентгеновских импульсов, позволяющих исследовать структурную динамику конденсированного вещества в 4D пространственно-временнóм континууме с разрешением вплоть до десятых долей фемтосекунды. Обсуждаются новые технические средства, повышающие чувствительность, точность и оперативность рентгеновских дифракционных экспериментов: новые и перспективные источники рентгеновских лучей, отражательная коллимирующая и фокусирующая рентгеновская оптика, быстрые малошумящие и радиационно-стойкие координатные рентгеновские детекторы, а также рентгеновские дифрактометры нового поколения, построенные на основе этих элементов. Наибольшее внимание уделяется современным техническим средствам, обеспечивающим проведение в университетских и производственных лабораториях рентгеновских дифракционных исследований материалов, которые ранее считались возможными только на синхротронном излучении в международных центрах коллективного пользования.

Текст: pdf
Войдите или зарегистрируйтесь чтобы получить доступ к полным текстам статей.
Ключевые слова: рентгеновские дифракционные методы, рентгеноструктурный анализ, рентгеновские дифрактометры, импульсные источники рентгеновских лучей, лазерно-плазменные источники рентгеновских лучей, альтернативные источники рентгеновских лучей, рентгеновские лазеры на свободных электронах, отражательная рентгеновская оптика, многослойные тонкоплёночные рентгеновские отражатели, полупроводниковые позиционно-чувствительные рентгеновские детекторы, двумерные гибридные пиксельные детекторы
PACS: 07.85.−m, 42.55.Vc, 61.05.C− (все)
DOI: 10.3367/UFNr.2018.10.038435
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2020/1/b/
Цитата: Фетисов Г В "Рентгеновские дифракционные методы структурной диагностики материалов: прогресс и достижения" УФН 190 2–36 (2020)
BibTexBibNote ® (generic) BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks
Русский English
TY JOUR
TI Рентгеновские дифракционные методы структурной диагностики материалов: прогресс и достижения
AU Фетисов, Г. В.
PB Успехи физических наук
PY 2020
JO Успехи физических наук
JF Успехи физических наук
JA Усп. физ. наук
VL 190
IS 1
SP 2-36
UR https://ufn.ru/ru/articles/2020/1/b/
ER https://doi.org/10.3367/UFNr.2018.10.038435

Поступила: 10 августа 2018, доработана: 15 сентября 2018, 4 октября 2018

English citation: Fetisov G V “X-ray diffraction methods for structural diagnostics of materials: progress and achievementsPhys. Usp. 63 (1) (2020); DOI: 10.3367/UFNe.2018.10.038435

© Успехи физических наук, 1918–2020
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение