Выпуски

 / 

2020

 / 

Январь

  

Обзоры актуальных проблем


Рентгеновские дифракционные методы структурной диагностики материалов: прогресс и достижения


Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова, химический факультет, Ленинские горы д. 1 стр. 3, Москва, 119991, Российская Федерация

Описано развитие рентгеновской дифрактометрии для структурных исследований с использованием как традиционных непрерывно излучающих генераторов рентгеновских лучей, так и новейших источников ультракоротких и ультраярких рентгеновских импульсов, позволяющих исследовать структурную динамику конденсированного вещества в 4D пространственно-временнóм континууме с разрешением вплоть до десятых долей фемтосекунды. Обсуждаются новые технические средства, повышающие чувствительность, точность и оперативность рентгеновских дифракционных экспериментов: новые и перспективные источники рентгеновских лучей, отражательная коллимирующая и фокусирующая рентгеновская оптика, быстрые малошумящие и радиационно-стойкие координатные рентгеновские детекторы, а также рентгеновские дифрактометры нового поколения, построенные на основе этих элементов. Наибольшее внимание уделяется современным техническим средствам, обеспечивающим проведение в университетских и производственных лабораториях рентгеновских дифракционных исследований материалов, которые ранее считались возможными только на синхротронном излучении в международных центрах коллективного пользования.

Текст: pdf
Войдите или зарегистрируйтесь чтобы получить доступ к полным текстам статей.
English fulltext is available at DOI: 10.3367/UFNe.2018.10.038435
Ключевые слова: рентгеновские дифракционные методы, рентгеноструктурный анализ, рентгеновские дифрактометры, импульсные источники рентгеновских лучей, лазерно-плазменные источники рентгеновских лучей, альтернативные источники рентгеновских лучей, рентгеновские лазеры на свободных электронах, отражательная рентгеновская оптика, многослойные тонкоплёночные рентгеновские отражатели, полупроводниковые позиционно-чувствительные рентгеновские детекторы, двумерные гибридные пиксельные детекторы
PACS: 07.85.−m, 42.55.Vc, 61.05.C− (все)
DOI: 10.3367/UFNr.2018.10.038435
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2020/1/b/
Цитата: Фетисов Г В "Рентгеновские дифракционные методы структурной диагностики материалов: прогресс и достижения" УФН 190 2–36 (2020)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

Поступила: 10 августа 2018, доработана: 15 сентября 2018, 4 октября 2018

English citation: Fetisov G V “X-ray diffraction methods for structural diagnostics of materials: progress and achievementsPhys. Usp. 63 2–32 (2020); DOI: 10.3367/UFNe.2018.10.038435

Список литературы (266) Статьи, ссылающиеся на эту (9) ↓ Похожие статьи (20)

  1. Andreev S V, Vorobiev N S et al Instrum Exp Tech 64 264 (2021)
  2. Potemkin F V, Mareev E I et al Review of Scientific Instruments 92 053101 (2021)
  3. Yarovenko I P, Prokhorov I V J. Phys.: Conf. Ser. 2099 012050 (2021)
  4. Semenov T A, Ivanov K A et al Quantum Electron. 51 838 (2021)
  5. Eseev M K, Matveev V I, Makarov D N Jetp Lett. 114 387 (2021)
  6. Prokhorov I V, Yarovenko I P J. Phys.: Conf. Ser. 1715 012043 (2021)
  7. Prokhorov I V, Yarovenko I P Comput. Math. and Math. Phys. 61 2088 (2021)
  8. Aseyev S A, Akhmanov A S et al Успехи физических наук 190 113 (2020) [Aseyev S A, Akhmanov A S et al Phys.-Usp. 63 103 (2020)]
  9. Garmatina A A, Bravy B G et al J. Phys.: Conf. Ser. 1692 012004 (2020)

© Успехи физических наук, 1918–2022
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение