Выпуски

 / 

2020

 / 

Январь

  

Обзоры актуальных проблем


Рентгеновские дифракционные методы структурной диагностики материалов: прогресс и достижения


Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова, химический факультет, Ленинские горы д. 1 стр. 3, Москва, 119991, Российская Федерация

Описано развитие рентгеновской дифрактометрии для структурных исследований с использованием как традиционных непрерывно излучающих генераторов рентгеновских лучей, так и новейших источников ультракоротких и ультраярких рентгеновских импульсов, позволяющих исследовать структурную динамику конденсированного вещества в 4D пространственно-временнóм континууме с разрешением вплоть до десятых долей фемтосекунды. Обсуждаются новые технические средства, повышающие чувствительность, точность и оперативность рентгеновских дифракционных экспериментов: новые и перспективные источники рентгеновских лучей, отражательная коллимирующая и фокусирующая рентгеновская оптика, быстрые малошумящие и радиационно-стойкие координатные рентгеновские детекторы, а также рентгеновские дифрактометры нового поколения, построенные на основе этих элементов. Наибольшее внимание уделяется современным техническим средствам, обеспечивающим проведение в университетских и производственных лабораториях рентгеновских дифракционных исследований материалов, которые ранее считались возможными только на синхротронном излучении в международных центрах коллективного пользования.

Текст pdf (1,3 Мб)
English fulltext is available at DOI: 10.3367/UFNe.2018.10.038435
Ключевые слова: рентгеновские дифракционные методы, рентгеноструктурный анализ, рентгеновские дифрактометры, импульсные источники рентгеновских лучей, лазерно-плазменные источники рентгеновских лучей, альтернативные источники рентгеновских лучей, рентгеновские лазеры на свободных электронах, отражательная рентгеновская оптика, многослойные тонкоплёночные рентгеновские отражатели, полупроводниковые позиционно-чувствительные рентгеновские детекторы, двумерные гибридные пиксельные детекторы
PACS: 07.85.−m, 42.55.Vc, 61.05.C− (все)
DOI: 10.3367/UFNr.2018.10.038435
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2020/1/b/
000537855600002
2-s2.0-85085127893
2020PhyU...63....2F
Цитата: Фетисов Г В "Рентгеновские дифракционные методы структурной диагностики материалов: прогресс и достижения" УФН 190 2–36 (2020)
BibTex BibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks
Русский English
%0 Journal Article
%T X-ray diffraction methods for structural diagnostics of materials: progress and achievements
%A G. V. Fetisov
%I Uspekhi Fizicheskikh Nauk
%D 2020
%J Usp. Fiz. Nauk
%V 190
%N 1
%P 2-36
%U https://ufn.ru/ru/articles/2020/1/b/
%U https://doi.org/10.3367/UFNr.2018.10.038435

Поступила: 10 августа 2018, доработана: 15 сентября 2018, 4 октября 2018

English citation: Fetisov G V “X-ray diffraction methods for structural diagnostics of materials: progress and achievementsPhys. Usp. 63 2–32 (2020); DOI: 10.3367/UFNe.2018.10.038435

© Успехи физических наук, 1918–2024
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение