Выпуск 4, 2024

Подписчикам

Для авторов

Выпуски

/

2000

/

Сентябрь

← →

Конференции и симпозиумы

Низкотемпературная сканирующая тунельная микроскопия

В.С. Эдельман
Институт физических проблем им. П.Л. Капицы РАН, ул. Косыгина 2, Москва, 117334, Российская Федерация

Сессия РАН 10.05.2000

Текст pdf (442 Кб)

Скачивая файл я соглашаюсь с условиями использования.

English fulltext is available at DOI: 10.1070/PU2000v043n09ABEH000807

PACS: 07.20.Mc, 07.79.−v, 07.79.Cz, 68.35.Bs (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0170.200009e.0995
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2000/9/e/
Web of Science

Web of Science

000165206800005
Цитата: Эдельман В С "Низкотемпературная сканирующая тунельная микроскопия" УФН 170 995–996 (2000)

BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)

MedlineRefWorks

Русский

PT Journal Article
TI Низкотемпературная сканирующая тунельная микроскопия
AU Эдельман В С
FAU Эдельман ВС
DP 10 Sep, 2000
TA Усп. физ. наук
VI 170
IP 9
PG 995-996
RX 10.3367/UFNr.0170.200009e.0995
URL https://ufn.ru/ru/articles/2000/9/e/
SO Усп. физ. наук 2000 Sep 10;170(9):995-996

English citation: Edel’man V S “Low-temperature scanning tunneling microscopy” Phys. Usp. 43 925–926 (2000); DOI: 10.1070/PU2000v043n09ABEH000807

© Успехи физических наук, 1918–2024
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение