Выпуски

 / 

2000

 / 

Сентябрь

  

Конференции и симпозиумы


Низкотемпературная сканирующая тунельная микроскопия


Институт физических проблем им. П.Л. Капицы РАН, ул. Косыгина 2, Москва, 117334, Российская Федерация

Сессия РАН 10.05.2000

Текст pdf (442 Кб)
English fulltext is available at DOI: 10.1070/PU2000v043n09ABEH000807
PACS: 07.20.Mc, 07.79.−v, 07.79.Cz, 68.35.Bs (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0170.200009e.0995
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2000/9/e/
Цитата: Эдельман В С "Низкотемпературная сканирующая тунельная микроскопия" УФН 170 995–996 (2000)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

English citation: Edel’man V S “Low-temperature scanning tunneling microscopyPhys. Usp. 43 925–926 (2000); DOI: 10.1070/PU2000v043n09ABEH000807

Список литературы (16) ↓ Похожие статьи (20)

  1. Хайкин М С ПТЭ (1) 161 (1989)
  2. Хайкин М С, Володин А П, Трояновский А М, Эдельман В С ПТЭ (4) 231 (1987)
  3. Володин А П, Степанян Г А, Хайкин М С, Эдельман В С ПТЭ (5) 185 (1989)
  4. Эдельман В С ПТЭ (4) 149 (1989)
  5. Edelman V S et al. J.Vac. Sci.Technol. B 9 618 (1991)
  6. Альтфедер И Б, Володин А П, Хайкин М С ПТЭ (5) 188 (1989)
  7. Хлюстиков И Н, Эдельман В С ПТЭ (1) 158 (1996)
  8. Edelman V S, Khlyustikov I N Czech. J. Phys. Suppl. 46 2839 (1996), Pt. S5
  9. Трояновский А М, Эдельман В С Письма в ЖЭТФ 60 104 (1994)
  10. Володин А П ПТЭ (6) 3 (1998)
  11. Эдельман В С ПТЭ (4) 203 (1994)
  12. Трояновский А М, Эдельман В С Поверхность (2) 51 (1998)
  13. Трояновский А М, Эдельман В С Кристаллография 44 336 (1999)
  14. Трояновский А М, Эдельман В С ЖЭТФ 115 2214 (1999)
  15. Edelman V S Phys. Lett. A 210 105 (1996)
  16. Edelman V S et al. Europhys. Lett. 34 115 (1996)

© Успехи физических наук, 1918–2023
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение