Выпуски

 / 

2000

 / 

Сентябрь

  

Конференции и симпозиумы


Низкотемпературная сканирующая тунельная микроскопия


Институт физических проблем им. П.Л. Капицы РАН, ул. Косыгина 2, Москва, 117334, Российская Федерация

Сессия РАН 10.05.2000

Текст pdf (442 Кб)
English fulltext is available at DOI: 10.1070/PU2000v043n09ABEH000807
PACS: 07.20.Mc, 07.79.−v, 07.79.Cz, 68.35.Bs (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0170.200009e.0995
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2000/9/e/
000165206800005
Цитата: Эдельман В С "Низкотемпературная сканирующая тунельная микроскопия" УФН 170 995–996 (2000)
BibTexBibNote ® (generic) BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks
Русский English
TY JOUR
TI Низкотемпературная сканирующая тунельная микроскопия
AU Эдельман, В. С.
PB Успехи физических наук
PY 2000
JO Успехи физических наук
JF Успехи физических наук
JA Усп. физ. наук
VL 170
IS 9
SP 995-996
UR https://ufn.ru/ru/articles/2000/9/e/
ER https://doi.org/10.3367/UFNr.0170.200009e.0995

English citation: Edel’man V S “Low-temperature scanning tunneling microscopyPhys. Usp. 43 925–926 (2000); DOI: 10.1070/PU2000v043n09ABEH000807

© Успехи физических наук, 1918–2024
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение