Выпуски

 / 

2000

 / 

Сентябрь

  

Конференции и симпозиумы


Низкотемпературная сканирующая тунельная микроскопия


Институт физических проблем им. П.Л. Капицы РАН, ул. Косыгина 2, Москва, 117334, Российская Федерация

Сессия РАН 10.05.2000

Текст pdf (442 Кб)
English fulltext is available at DOI: 10.1070/PU2000v043n09ABEH000807
PACS: 07.20.Mc, 07.79.−v, 07.79.Cz, 68.35.Bs (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0170.200009e.0995
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2000/9/e/
000165206800005
Цитата: Эдельман В С "Низкотемпературная сканирующая тунельная микроскопия" УФН 170 995–996 (2000)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS) MedlineRefWorks
Русский English
PT Journal Article
TI Low-temperature scanning tunneling microscopy
AU Edel’man V S
FAU Edel’man VS
DP 10 Sep, 2000
TA Usp. Fiz. Nauk
VI 170
IP 9
PG 995-996
RX 10.3367/UFNr.0170.200009e.0995
URL https://ufn.ru/ru/articles/2000/9/e/
SO Usp. Fiz. Nauk 2000 Sep 10;170(9):995-996

English citation: Edel’man V S “Low-temperature scanning tunneling microscopyPhys. Usp. 43 925–926 (2000); DOI: 10.1070/PU2000v043n09ABEH000807

© Успехи физических наук, 1918–2024
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение