Низкотемпературная сканирующая тунельная микроскопия

Выпуски

В.С. Эдельман
Институт физических проблем им. П.Л. Капицы РАН, ул. Косыгина 2, Москва, 117334, Российская Федерация

Сессия РАН 10.05.2000

Текст pdf (442 Кб)

Скачивая файл я соглашаюсь с условиями использования.

English fulltext is available at DOI: 10.1070/PU2000v043n09ABEH000807

PACS: 07.20.Mc, 07.79.−v, 07.79.Cz, 68.35.Bs (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0170.200009e.0995
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2000/9/e/
Web of Science

000165206800005
Цитата: Эдельман В С "Низкотемпературная сканирующая тунельная микроскопия" УФН 170 995–996 (2000)

English citation: Edel’man V S “Low-temperature scanning tunneling microscopy” Phys. Usp. 43 925–926 (2000); DOI: 10.1070/PU2000v043n09ABEH000807