Выпуски

 / 

1996

 / 

Февраль

  

Конференции и симпозиумы


Исследование с помощью сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии поверхностей, модифицированных ионными и лазерными пучками


Казанский физико-технический институт им. Е.К. Завойского КазНЦ РАН, Сибирский тракт 10/7, Казань, 420029, Российская Федерация

Сессия РАН 27.09. 1995 г.

Текст: pdf
Войдите или зарегистрируйтесь чтобы получить доступ к полным текстам статей.
PACS: 07.79.Cz, 07.79.Lh, 42.62.Hk (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0166.199602i.0210
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1996/2/i/
Цитата: Бухараев А А "Исследование с помощью сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии поверхностей, модифицированных ионными и лазерными пучками" УФН 166 210–213 (1996)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)Medline RefWorks
Русский English
RT Journal
T1 Исследование с помощью сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии поверхностей, модифицированных ионными и лазерными пучками
A1 Бухараев,А.А.
PB Успехи физических наук
PY 1996
FD 10 Feb, 1996
JF Успехи физических наук
JO Усп. физ. наук
VO 166
IS 2
SP 210-213
DO 10.3367/UFNr.0166.199602i.0210
LK https://ufn.ru/ru/articles/1996/2/i/

English citation: Bukharaev A A “Scanning tunnelling and atomic force microscopy of surfaces modified by ion and laser beamsPhys. Usp. 39 193–196 (1996); DOI: 10.1070/PU1996v039n02ABEH001499

© Успехи физических наук, 1918–2021
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение