Исследование с помощью сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии поверхностей, модифицированных ионными и лазерными пучками

A1996UB80800009
Цитата: Бухараев А А "Исследование с помощью сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии поверхностей, модифицированных ионными и лазерными пучками" УФН 166 210–213 (1996)

BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)Medline

RefWorks

Русский

English

RT Journal
T1 Scanning tunnelling and atomic force microscopy of surfaces modified by ion and laser beams

A1 Bukharaev,A.A.
PB Uspekhi Fizicheskikh Nauk
PY 1996
FD 10 Feb, 1996
JF Uspekhi Fizicheskikh Nauk
JO Usp. Fiz. Nauk
VO 166
IS 2
SP 210-213
DO 10.3367/UFNr.0166.199602i.0210
LK https://ufn.ru/ru/articles/1996/2/i/

English citation: Bukharaev A A “Scanning tunnelling and atomic force microscopy of surfaces modified by ion and laser beams” Phys. Usp. 39 193–196 (1996); DOI: 10.1070/PU1996v039n02ABEH001499