Issues

 / 

1996

 / 

February

  

Conferences and symposia


Scanning tunnelling and atomic force microscopy of surfaces modified by ion and laser beams


E.K. Zavoiskii Kazan Physicotechnical Institute, Kazan Scientific Centre of the Russian Academy of Sciences, Sibirskii trakt 10/7, Kazan, 420029, Russian Federation
Text can be downloaded in Russian. English translation is available on IOP Science.
PACS: 07.79.Cz, 07.79.Lh, 42.62.Hk (all)
DOI: 10.1070/PU1996v039n02ABEH001499
URL: https://ufn.ru/en/articles/1996/2/h/
Citation: Bukharaev A A "Scanning tunnelling and atomic force microscopy of surfaces modified by ion and laser beams" Phys. Usp. 39 193–196 (1996)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

Оригинал: Бухараев А А «Исследование с помощью сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии поверхностей, модифицированных ионными и лазерными пучками» УФН 166 210–213 (1996); DOI: 10.3367/UFNr.0166.199602i.0210

© 1918–2019 Uspekhi Fizicheskikh Nauk
Email: ufn@ufn.ru Editorial office contacts About the journal Terms and conditions