Выпуски

 / 

1996

 / 

Февраль

  

Конференции и симпозиумы


Исследование с помощью сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии поверхностей, модифицированных ионными и лазерными пучками


Казанский физико-технический институт им. Е.К. Завойского КазНЦ РАН, Сибирский тракт 10/7, Казань, 420029, Российская Федерация

Сессия РАН 27.09. 1995 г.

Текст: pdf
Войдите или зарегистрируйтесь чтобы получить доступ к полным текстам статей.
PACS: 07.79.Cz, 07.79.Lh, 42.62.Hk (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0166.199602i.0210
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1996/2/i/
Цитата: Бухараев А А "Исследование с помощью сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии поверхностей, модифицированных ионными и лазерными пучками" УФН 166 210–213 (1996)
BibTex BibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks
Русский English
%0 Journal Article
%T Исследование с помощью сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии поверхностей, модифицированных ионными и лазерными пучками
%A А. А. Бухараев
%I Успехи физических наук
%D 1996
%J Усп. физ. наук
%V 166
%N 2
%P 210-213
%U https://ufn.ru/ru/articles/1996/2/i/
%U https://doi.org/10.3367/UFNr.0166.199602i.0210

English citation: Bukharaev A A “Scanning tunnelling and atomic force microscopy of surfaces modified by ion and laser beamsPhys. Usp. 39 193–196 (1996); DOI: 10.1070/PU1996v039n02ABEH001499

© Успехи физических наук, 1918–2021
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение