RSS-ленты
РусскийEnglish
Выпуск 9, 2026
Том год страница
Выпуски Авторы PACS Подписчикам Для авторов

Выпуски

 / 

1996

 / 

февраль

←  →

Конференции и симпозиумы


Исследование с помощью сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии поверхностей, модифицированных ионными и лазерными пучками


Казанский физико-технический институт им. Е.К. Завойского ФИЦ Казанский научный центр РАН, Сибирский тракт 10/7, Казань, 420029, Российская Федерация

Сессия РАН 27.09. 1995 г.

Текст pdf (315 Кб)
English fulltext is available at DOI: 10.1070/PU1996v039n02ABEH001499
PACS: 07.79.Cz, 07.79.Lh, 42.62.Hk (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0166.199602i.0210
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1996/2/i/
A1996UB80800009
Цитата: Бухараев А А "Исследование с помощью сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии поверхностей, модифицированных ионными и лазерными пучками" УФН 166 210–213 (1996)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

English citation: Bukharaev A A “Scanning tunnelling and atomic force microscopy of surfaces modified by ion and laser beams” Phys. Usp. 39 193–196 (1996); DOI: 10.1070/PU1996v039n02ABEH001499

Список литературы (11) Похожие статьи (16) ↓

  1. В.С. Эдельман «Развитие сканирующей туннельной микроскопии» УФН 161 (3) 168–171 (1991)
  2. В.С. Эдельман «Низкотемпературная сканирующая тунельная микроскопия» УФН 170 995–996 (2000)
  3. А.А. Бабин, А.М. Киселев и др. «Экспериментальное исследование воздействия субтераваттного фемтосекундного лазерного излучения на прозрачные диэлектрики при аксиконной фокусировке» УФН 169 80–84 (1999)
  4. В.М. Гордиенко, А.Б. Савельев-Трофимов «Фемтосекундная плазма в плотных наноструктурированных мишенях: новые подходы и перспективы» УФН 169 78–80 (1999)
  5. В.С. Эдельман «Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия атомно-чистой поверхности висмута» УФН 175 1111–1115 (2005)
  6. Б.В. Андрюшечкин, К.Н. Ельцов, В.М. Шевлюга «Сканирующая туннельная микроскопия фазовых переходов "соразмерная – несоразмерная структура" в хемосорбированных слоях галогена» УФН 170 571–575 (2000)
  7. С.А. Асеев, Е.А. Рябов «Исследование структурной динамики веществ методами сверхбыстрой электронной дифракции и микроскопии (к 50-летию Института спектроскопии РАН)» УФН 189 306–311 (2019)
  8. А.М. Бонч-Бруевич, М.Н. Либенсон, В.С. Макин «Поверхностные поляритоны и силовое действие излучения» УФН 155 719–721 (1988)
  9. В.И. Панов «Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия поверхности» УФН 155 155–158 (1988)
  10. Н.И. Чхало, И.В. Малышев и др. «Рентгеновская оптика дифракционного качества: технология, метрология, применения» УФН 190 74–91 (2020)
  11. М.С. Хайкин «Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия» УФН 155 158–159 (1988)
  12. Е.Е. Вдовин, Ю.Н. Ханин и др. «Визуализация волновых функций электронов в InAs самоорганизующихся квантовых точках с помощью магнитотуннельной спектроскопии» УФН 171 1365 (2001)
  13. Е.С. Солдатов, А.С. Трифонов и др. «Кластерные туннельные структуры и коррелированное туннелирование электронов в них» УФН 166 903–903 (1996)
  14. Д.Е. Преснов, В.А. Крупенин, С.В. Лотхов «Одноэлектронные структуры на основе сверхмалых туннельных переходов Al/AlOx/Al: технология изготовления, экспериментальные результаты» УФН 166 906–907 (1996)
  15. С.Г. Гаранин, Ф.А. Стариков «Нелинейная и линейная адаптивная оптика для коррекции лазерных пучков» УФН 196 303–329 (2026)
  16. Р.А. Сурис «Я.И. Френкель о реальной поверхности кристаллов» УФН 164 348–352 (1994)

Список формируется автоматически.
© Успехи физических наук, 1918–2026
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение