 |
RSS-ленты |
|
|||||
| Выпуск 12, 2024 |
|
||||||
|
|
|
||||||
Выпуски/1996/Февраль |
← → |
| Конференции и симпозиумы |
Исследование с помощью сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии поверхностей, модифицированных ионными и лазерными пучками
Казанский физико-технический институт им. Е.К. Завойского КазНЦ РАН, Сибирский тракт 10/7, Казань, 420029, Российская Федерация
Сессия РАН 27.09. 1995 г.
|
PACS: 07.79.Cz, 07.79.Lh, 42.62.Hk ()
DOI: URL: https://ufn.ru/ru/articles/1996/2/i/  A1996UB80800009 Цитата: Бухараев А А "Исследование с помощью сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии поверхностей, модифицированных ионными и лазерными пучками" УФН 166 210–213 (1996) English citation: Bukharaev A A “Scanning tunnelling and atomic force microscopy of surfaces modified by ion and laser beams” Phys. Usp. 39 193–196 (1996); |
|
© Успехи физических наук, 1918–2024 Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение |