Применение высоковольтной электронной микроскопии в физике твердого тела

PACS: 07.80., 61.16.D, 61.80.F
DOI: 10.3367/UFNr.0116.197506d.0303
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1975/6/d/
Цитата: Бондаренко Г Г, Быстров Л Н, Иванов Л И, Платов Ю М "Применение высоковольтной электронной микроскопии в физике твердого тела" УФН 116 303–314 (1975)

BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)Medline

RefWorks

Русский

English

RT Journal
T1 Use of high-voltage electron microscopy in solid-state physics
A1 Bondarenko,G.G.
A1 Bystrov,L.N.
A1 Ivanov,L.I.
A1 Platov,Yu.M.
PB Uspekhi Fizicheskikh Nauk
PY 1975
FD 10 Jun, 1975
JF Uspekhi Fizicheskikh Nauk
JO Usp. Fiz. Nauk
VO 116
IS 6
SP 303-314
DO 10.3367/UFNr.0116.197506d.0303
LK https://ufn.ru/ru/articles/1975/6/d/

English citation: Bondarenko G G, Bystrov L N, Ivanov L I, Platov Yu M “Use of high-voltage electron microscopy in solid-state physics” Sov. Phys. Usp. 18 446–451 (1975); DOI: 10.1070/PU1975v018n06ABEH001966