Выпуски

 / 

1975

 / 

Июнь

  

Новые приборы и методы измерений


Применение высоковольтной электронной микроскопии в физике твердого тела

Текст pdf (1,3 Мб)
PACS: 07.80., 61.16.D, 61.80.F
DOI: 10.3367/UFNr.0116.197506d.0303
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1975/6/d/
Цитата: Бондаренко Г Г, Быстров Л Н, Иванов Л И, Платов Ю М "Применение высоковольтной электронной микроскопии в физике твердого тела" УФН 116 303–314 (1975)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS) MedlineRefWorks
Русский English
PT Journal Article
TI Применение высоковольтной электронной микроскопии в физике твердого тела
AU Бондаренко Г Г
FAU Бондаренко ГГ
AU Быстров Л Н
FAU Быстров ЛН
AU Иванов Л И
FAU Иванов ЛИ
AU Платов Ю М
FAU Платов ЮМ
DP 10 Jun, 1975
TA Усп. физ. наук
VI 116
IP 6
PG 303-314
RX 10.3367/UFNr.0116.197506d.0303
URL https://ufn.ru/ru/articles/1975/6/d/
SO Усп. физ. наук 1975 Jun 10;116(6):303-314

English citation: Bondarenko G G, Bystrov L N, Ivanov L I, Platov Yu M “Use of high-voltage electron microscopy in solid-state physicsSov. Phys. Usp. 18 446–451 (1975); DOI: 10.1070/PU1975v018n06ABEH001966

© Успехи физических наук, 1918–2024
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение