Выпуски

 / 

1975

 / 

июнь

←  →

Новые приборы и методы измерений


Применение высоковольтной электронной микроскопии в физике твердого тела

Текст pdf (1,3 Мб)
English fulltext is available at DOI: 10.1070/PU1975v018n06ABEH001966
PACS: 07.80., 61.16.D, 61.80.F
DOI: 10.3367/UFNr.0116.197506d.0303
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1975/6/d/
Цитата: Бондаренко Г Г, Быстров Л Н, Иванов Л И, Платов Ю М "Применение высоковольтной электронной микроскопии в физике твердого тела" УФН 116 303–314 (1975)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

English citation: Bondarenko G G, Bystrov L N, Ivanov L I, Platov Yu M “Use of high-voltage electron microscopy in solid-state physics” Sov. Phys. Usp. 18 446–451 (1975); DOI: 10.1070/PU1975v018n06ABEH001966

Статьи, ссылающиеся на эту (6) Похожие статьи (8) ↓

  1. Г.В. Спивак, Г.В. Сапарин, М.К. Антошин «Цветной контраст в растровой электронной микроскопии» УФН 113 695–699 (1974)
  2. А.Д. Погребняк, А.Г. Пономарев и др. «Применение микро- и нанозондов для анализа малоразмерных 3D материалов, наносистем и нанообъектов» УФН 182 287–321 (2012)
  3. В.И. Милютин «Интерференционная и фазовая электронная микроскопия» УФН 74 553–566 (1961)
  4. Б.М. Царёв «Электронный проектор как метод физико-химических исследований» УФН 36 181–209 (1948)
  5. В.И. Графутин, Е.П. Прокопьев «Применение позитронной аннигиляционной спектроскопии для изучения строения вещества» УФН 172 67–83 (2002)
  6. А.Е. Лукьянов, Г.В. Спивак, Р.С. Гвоздовер «Зеркальная электронная микроскопия» УФН 110 623–668 (1973)
  7. Г. Фридман «Рентгеновская спектроскопия» УФН 87 675–709 (1965)
  8. А.А. Веденов, Г.Д. Мыльников, Д.Н. Соболенко «Генерация когерентного излучения дальнего инфракрасного диапазона, основанная на применении лазеров» УФН 138 477–515 (1982)

Список формируется автоматически.

© Успехи физических наук, 1918–2026
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение