Применение высоковольтной электронной микроскопии в физике твердого тела

PACS: 07.80., 61.16.D, 61.80.F
DOI: 10.3367/UFNr.0116.197506d.0303
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1975/6/d/
Цитата: Бондаренко Г Г, Быстров Л Н, Иванов Л И, Платов Ю М "Применение высоковольтной электронной микроскопии в физике твердого тела" УФН 116 303–314 (1975)

BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

English citation: Bondarenko G G, Bystrov L N, Ivanov L I, Platov Yu M “Use of high-voltage electron microscopy in solid-state physics” Sov. Phys. Usp. 18 446–451 (1975); DOI: 10.1070/PU1975v018n06ABEH001966

Статьи, ссылающиеся на эту (5) Похожие статьи (3) ↓

Г.В. Спивак, Г.В. Сапарин, М.К. Антошин «Цветной контраст в растровой электронной микроскопии» УФН 113 695–699 (1974)
А.Е. Лукьянов, Г.В. Спивак, Р.С. Гвоздовер «Зеркальная электронная микроскопия» УФН 110 623–668 (1973)
Л.С. Корниенко, В.Б. Штейншлейгер «Квантовые усилители и их применение в космических исследованиях» УФН 126 287–309 (1978)

Список формируется автоматически.