Выпуск 1, 2026

Подписчикам

Для авторов

Выпуски

/

1975

/

Июнь

← →

Новые приборы и методы измерений

Применение высоковольтной электронной микроскопии в физике твердого тела

Г.Г. Бондаренко, Л.Н. Быстров, Л.И. Иванов, Ю.М. Платов

Текст pdf (1,3 Мб)

Скачивая файл я соглашаюсь с условиями использования.

English fulltext is available at DOI: 10.1070/PU1975v018n06ABEH001966

PACS: 07.80., 61.16.D, 61.80.F
DOI: 10.3367/UFNr.0116.197506d.0303
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1975/6/d/
Цитата: Бондаренко Г Г, Быстров Л Н, Иванов Л И, Платов Ю М "Применение высоковольтной электронной микроскопии в физике твердого тела" УФН 116 303–314 (1975)

BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

English citation: Bondarenko G G, Bystrov L N, Ivanov L I, Platov Yu M “Use of high-voltage electron microscopy in solid-state physics” Sov. Phys. Usp. 18 446–451 (1975); DOI: 10.1070/PU1975v018n06ABEH001966

Статьи, ссылающиеся на эту (6) Похожие статьи (4) ↓

Г.В. Спивак, Г.В. Сапарин, М.К. Антошин «Цветной контраст в растровой электронной микроскопии» УФН 113 695–699 (1974)
А.Б. Толстогузов, П.Ю. Бабенко, А.Н. Зиновьев «Диагностика поверхности методом спектроскопии обратно рассеянных ионов низких энергий» УФН 196 48–82 (2026)
А.Е. Лукьянов, Г.В. Спивак, Р.С. Гвоздовер «Зеркальная электронная микроскопия» УФН 110 623–668 (1973)
Л.С. Корниенко, В.Б. Штейншлейгер «Квантовые усилители и их применение в космических исследованиях» УФН 126 287–309 (1978)

Список формируется автоматически.

© Успехи физических наук, 1918–2026
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение