Выпуски

 / 

1975

 / 

Июнь

  

Новые приборы и методы измерений


Применение высоковольтной электронной микроскопии в физике твердого тела

Текст pdf (1,3 Мб)
PACS: 07.80., 61.16.D, 61.80.F
DOI: 10.3367/UFNr.0116.197506d.0303
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1975/6/d/
Цитата: Бондаренко Г Г, Быстров Л Н, Иванов Л И, Платов Ю М "Применение высоковольтной электронной микроскопии в физике твердого тела" УФН 116 303–314 (1975)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)Medline RefWorks
Русский English
RT Journal
T1 Применение высоковольтной электронной микроскопии в физике твердого тела
A1 Бондаренко,Г.Г.
A1 Быстров,Л.Н.
A1 Иванов,Л.И.
A1 Платов,Ю.М.
PB Успехи физических наук
PY 1975
FD 10 Jun, 1975
JF Успехи физических наук
JO Усп. физ. наук
VO 116
IS 6
SP 303-314
DO 10.3367/UFNr.0116.197506d.0303
LK https://ufn.ru/ru/articles/1975/6/d/

English citation: Bondarenko G G, Bystrov L N, Ivanov L I, Platov Yu M “Use of high-voltage electron microscopy in solid-state physicsSov. Phys. Usp. 18 446–451 (1975); DOI: 10.1070/PU1975v018n06ABEH001966

© Успехи физических наук, 1918–2024
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение