Issues

 / 

1975

 / 

June

  

New instruments and measurement methods


Use of high-voltage electron microscopy in solid-state physics

Text can be downloaded in Russian. English translation is available here.
PACS: 07.80., 61.16.D, 61.80.F
DOI: 10.1070/PU1975v018n06ABEH001966
URL: https://ufn.ru/en/articles/1975/6/d/
Citation: Bondarenko G G, Bystrov L N, Ivanov L I, Platov Yu M "Use of high-voltage electron microscopy in solid-state physics" Sov. Phys. Usp. 18 446–451 (1975)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

Оригинал: Бондаренко Г Г, Быстров Л Н, Иванов Л И, Платов Ю М «Применение высоковольтной электронной микроскопии в физике твердого тела» УФН 116 303–314 (1975); DOI: 10.3367/UFNr.0116.197506d.0303

© 1918–2019 Uspekhi Fizicheskikh Nauk
Email: ufn@ufn.ru Editorial office contacts About the journal Terms and conditions