Применение высоковольтной электронной микроскопии в физике твердого тела

PACS: 07.80., 61.16.D, 61.80.F
DOI: 10.3367/UFNr.0116.197506d.0303
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1975/6/d/
Цитата: Бондаренко Г Г, Быстров Л Н, Иванов Л И, Платов Ю М "Применение высоковольтной электронной микроскопии в физике твердого тела" УФН 116 303–314 (1975)

BibTexBibNote ® (generic)

BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

Русский

English

TY JOUR
TI Применение высоковольтной электронной микроскопии в физике твердого тела
AU Бондаренко, Г. Г.
AU Быстров, Л. Н.
AU Иванов, Л. И.
AU Платов, Ю. М.
PB Успехи физических наук
PY 1975
JO Успехи физических наук
JF Успехи физических наук
JA Усп. физ. наук
VL 116
IS 6
SP 303-314
UR https://ufn.ru/ru/articles/1975/6/d/
ER https://doi.org/10.3367/UFNr.0116.197506d.0303

English citation: Bondarenko G G, Bystrov L N, Ivanov L I, Platov Yu M “Use of high-voltage electron microscopy in solid-state physics” Sov. Phys. Usp. 18 446–451 (1975); DOI: 10.1070/PU1975v018n06ABEH001966