Выпуск 12, 2024

Подписчикам

Для авторов

Выпуски

/

1975

/

Июнь

← →

Новые приборы и методы измерений

Применение высоковольтной электронной микроскопии в физике твердого тела

Г.Г. Бондаренко, Л.Н. Быстров, Л.И. Иванов, Ю.М. Платов

Текст pdf (1,3 Мб)

Скачивая файл я соглашаюсь с условиями использования.

English fulltext is available at DOI: 10.1070/PU1975v018n06ABEH001966

PACS: 07.80., 61.16.D, 61.80.F
DOI: 10.3367/UFNr.0116.197506d.0303
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1975/6/d/
Цитата: Бондаренко Г Г, Быстров Л Н, Иванов Л И, Платов Ю М "Применение высоковольтной электронной микроскопии в физике твердого тела" УФН 116 303–314 (1975)

BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

English citation: Bondarenko G G, Bystrov L N, Ivanov L I, Platov Yu M “Use of high-voltage electron microscopy in solid-state physics” Sov. Phys. Usp. 18 446–451 (1975); DOI: 10.1070/PU1975v018n06ABEH001966

© Успехи физических наук, 1918–2024
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение