Картины дифракции Фраунгофера обнаруживают ряд довольно интересных свойств симметрии. Рассматривается простой, но весьма общий случай дифракции излучения на отверстиях в экране в том случае, когда фаза электрического поля в падающей на экран волне остается постоянной в пределах отверстия. В этом случае распределение интенсивности дифрагированного поля в плоскости изображения независимо от формы отверстия обладает центром симметрии. Кроме этого, наличие дополнительной симметрии в форме отверстия приводит к появлению соответствующей дополнительной симметрии и в картинах дифракции Фраунгофера. Все эти свойства обсуждаются на примере восьми фотографий дифракционных картин.
Ε. Ηесht, Symmetries in Fraunhofer Diffraction, Amer. J. Phys. 40, 571 (1972). Перевод С. Н. Столярова Э. Гехт — сотрудник физического отдела Университета Адельфи, Гарден-Сити, Нью-Йорк (США).