Свойства симметрии в картинах дифракции Фраунгофера

Картины дифракции Фраунгофера обнаруживают ряд довольно интересных свойств симметрии. Рассматривается простой, но весьма общий случай дифракции излучения на отверстиях в экране в том случае, когда фаза электрического поля в падающей на экран волне остается постоянной в пределах отверстия. В этом случае распределение интенсивности дифрагированного поля в плоскости изображения независимо от формы отверстия обладает центром симметрии. Кроме этого, наличие дополнительной симметрии в форме отверстия приводит к появлению соответствующей дополнительной симметрии и в картинах дифракции Фраунгофера. Все эти свойства обсуждаются на примере восьми фотографий дифракционных картин.
Ε. Ηесht, Symmetries in Fraunhofer Diffraction, Amer. J. Phys. 40, 571 (1972). Перевод С. Н. Столярова Э. Гехт — сотрудник физического отдела Университета Адельфи, Гарден-Сити, Нью-Йорк (США).

Текст pdf (1,2 Мб)

Скачивая файл я соглашаюсь с условиями использования.

DOI: 10.3367/UFNr.0111.197310g.0355
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1973/10/g/
Цитата: Гехт Э "Свойства симметрии в картинах дифракции Фраунгофера" УФН 111 355–364 (1973)

BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)

MedlineRefWorks

Русский

English

PT Journal Article
TI Свойства симметрии в картинах дифракции Фраунгофера
AU Гехт Э
FAU Гехт Э
DP 10 Oct, 1973
TA Усп. физ. наук
VI 111
IP 10
PG 355-364
RX 10.3367/UFNr.0111.197310g.0355
URL https://ufn.ru/ru/articles/1973/10/g/
SO Усп. физ. наук 1973 Oct 10;111(10):355-364