Выпуски

 / 

1973

 / 

Октябрь

  

Методические заметки


Свойства симметрии в картинах дифракции Фраунгофера

Картины дифракции Фраунгофера обнаруживают ряд довольно интересных свойств симметрии. Рассматривается простой, но весьма общий случай дифракции излучения на отверстиях в экране в том случае, когда фаза электрического поля в падающей на экран волне остается постоянной в пределах отверстия. В этом случае распределение интенсивности дифрагированного поля в плоскости изображения независимо от формы отверстия обладает центром симметрии. Кроме этого, наличие дополнительной симметрии в форме отверстия приводит к появлению соответствующей дополнительной симметрии и в картинах дифракции Фраунгофера. Все эти свойства обсуждаются на примере восьми фотографий дифракционных картин.
Ε. Ηесht, Symmetries in Fraunhofer Diffraction, Amer. J. Phys. 40, 571 (1972). Перевод С. Н. Столярова Э. Гехт — сотрудник физического отдела Университета Адельфи, Гарден-Сити, Нью-Йорк (США).

Текст: pdf
Войдите или зарегистрируйтесь чтобы получить доступ к полным текстам статей.
DOI: 10.3367/UFNr.0111.197310g.0355
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1973/10/g/
Цитата: Гехт Э "Свойства симметрии в картинах дифракции Фраунгофера" УФН 111 355–364 (1973)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS) MedlineRefWorks
Русский English
PT Journal Article
TI Свойства симметрии в картинах дифракции Фраунгофера
AU Гехт Э
FAU Гехт Э
DP 10 Oct, 1973
TA Усп. физ. наук
VI 111
IP 10
PG 355-364
RX 10.3367/UFNr.0111.197310g.0355
URL https://ufn.ru/ru/articles/1973/10/g/
SO Усп. физ. наук 1973 Oct 10;111(10):355-364
© Успехи физических наук, 1918–2020
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение