Выпуски

 / 

1973

 / 

Октябрь

  

Методические заметки


Свойства симметрии в картинах дифракции Фраунгофера

Картины дифракции Фраунгофера обнаруживают ряд довольно интересных свойств симметрии. Рассматривается простой, но весьма общий случай дифракции излучения на отверстиях в экране в том случае, когда фаза электрического поля в падающей на экран волне остается постоянной в пределах отверстия. В этом случае распределение интенсивности дифрагированного поля в плоскости изображения независимо от формы отверстия обладает центром симметрии. Кроме этого, наличие дополнительной симметрии в форме отверстия приводит к появлению соответствующей дополнительной симметрии и в картинах дифракции Фраунгофера. Все эти свойства обсуждаются на примере восьми фотографий дифракционных картин.
Ε. Ηесht, Symmetries in Fraunhofer Diffraction, Amer. J. Phys. 40, 571 (1972). Перевод С. Н. Столярова Э. Гехт — сотрудник физического отдела Университета Адельфи, Гарден-Сити, Нью-Йорк (США).

Текст: pdf
Войдите или зарегистрируйтесь чтобы получить доступ к полным текстам статей.
DOI: 10.3367/UFNr.0111.197310g.0355
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1973/10/g/
Цитата: Гехт Э "Свойства симметрии в картинах дифракции Фраунгофера" УФН 111 355–364 (1973)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)Medline RefWorks
Русский English
RT Journal
T1 Свойства симметрии в картинах дифракции Фраунгофера
A1 Гехт,Э.
PB Успехи физических наук
PY 1973
FD 10 Oct, 1973
JF Успехи физических наук
JO Усп. физ. наук
VO 111
IS 10
SP 355-364
DO 10.3367/UFNr.0111.197310g.0355
LK https://ufn.ru/ru/articles/1973/10/g/
© Успехи физических наук, 1918–2020
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение