Выпуски

 / 

1972

 / 

Апрель

  

Новые приборы и методы измерений


Методы измерения малых изменений разности фаз в интерференционных устройствах

Содержание: Введение. Принципиальные ограничения точности интерференционных измерений. Визуальные методы. Метод измерения смещения полос. Метод равномерного поля. Метод уравнивания яркости соседних полос. Метод чувствительного цвета. Метод темного поля. Метод мерцаний. Метод эквиденситометрии. Фотоэлектрические методы. Модуляционный метод. Фазовый метод. Метод временного преобразования. Осциллографические методы. Компенсационный метод. Заключение. Цитированная литература.

Текст pdf (2,6 Мб)
PACS: 07.60.Ly, 06.30.Bp, 85.60.−q (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0106.197204h.0687
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1972/4/h/
Цитата: Карташев А И, Эцин И Ш "Методы измерения малых изменений разности фаз в интерференционных устройствах" УФН 106 687–721 (1972)
BibTex BibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks
Русский English
%0 Journal Article
%T Methods of Measuring Small Phase Difference Changes in Interference Devices
%A A. I. Kartashev
%A I. Sh. Etsin
%I Uspekhi Fizicheskikh Nauk
%D 1972
%J Usp. Fiz. Nauk
%V 106
%N 4
%P 687-721
%U https://ufn.ru/ru/articles/1972/4/h/
%U https://doi.org/10.3367/UFNr.0106.197204h.0687

English citation: Kartashev A I, Etsin I Sh “Methods of Measuring Small Phase Difference Changes in Interference DevicesSov. Phys. Usp. 15 232–250 (1972); DOI: 10.1070/PU1972v015n02ABEH004966

© Успехи физических наук, 1918–2024
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение