Методы измерения малых изменений разности фаз в интерференционных устройствах

Содержание: Введение. Принципиальные ограничения точности интерференционных измерений. Визуальные методы. Метод измерения смещения полос. Метод равномерного поля. Метод уравнивания яркости соседних полос. Метод чувствительного цвета. Метод темного поля. Метод мерцаний. Метод эквиденситометрии. Фотоэлектрические методы. Модуляционный метод. Фазовый метод. Метод временного преобразования. Осциллографические методы. Компенсационный метод. Заключение. Цитированная литература.

Текст pdf (2,6 Мб)

Скачивая файл я соглашаюсь с условиями использования.

English fulltext is available at DOI: 10.1070/PU1972v015n02ABEH004966

PACS: 07.60.Ly, 06.30.Bp, 85.60.−q (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0106.197204h.0687
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1972/4/h/
Цитата: Карташев А И, Эцин И Ш "Методы измерения малых изменений разности фаз в интерференционных устройствах" УФН 106 687–721 (1972)

BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)Medline

RefWorks

Русский

English

RT Journal
T1 Методы измерения малых изменений разности фаз в интерференционных устройствах
A1 Карташев,А.И.
A1 Эцин,И.Ш.
PB Успехи физических наук
PY 1972
FD 10 Apr, 1972
JF Успехи физических наук
JO Усп. физ. наук
VO 106
IS 4
SP 687-721
DO 10.3367/UFNr.0106.197204h.0687
LK https://ufn.ru/ru/articles/1972/4/h/

English citation: Kartashev A I, Etsin I Sh “Methods of Measuring Small Phase Difference Changes in Interference Devices” Sov. Phys. Usp. 15 232–250 (1972); DOI: 10.1070/PU1972v015n02ABEH004966