Методы измерения малых изменений разности фаз в интерференционных устройствах

Содержание: Введение. Принципиальные ограничения точности интерференционных измерений. Визуальные методы. Метод измерения смещения полос. Метод равномерного поля. Метод уравнивания яркости соседних полос. Метод чувствительного цвета. Метод темного поля. Метод мерцаний. Метод эквиденситометрии. Фотоэлектрические методы. Модуляционный метод. Фазовый метод. Метод временного преобразования. Осциллографические методы. Компенсационный метод. Заключение. Цитированная литература.

Текст pdf (2,6 Мб)

Скачивая файл я соглашаюсь с условиями использования.

English fulltext is available at DOI: 10.1070/PU1972v015n02ABEH004966

PACS: 07.60.Ly, 06.30.Bp, 85.60.−q (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0106.197204h.0687
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1972/4/h/
Цитата: Карташев А И, Эцин И Ш "Методы измерения малых изменений разности фаз в интерференционных устройствах" УФН 106 687–721 (1972)

BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)

MedlineRefWorks

Русский

English

PT Journal Article
TI Методы измерения малых изменений разности фаз в интерференционных устройствах
AU Карташев А И
FAU Карташев АИ
AU Эцин И Ш
FAU Эцин ИШ
DP 10 Apr, 1972
TA Усп. физ. наук
VI 106
IP 4
PG 687-721
RX 10.3367/UFNr.0106.197204h.0687
URL https://ufn.ru/ru/articles/1972/4/h/
SO Усп. физ. наук 1972 Apr 10;106(4):687-721

English citation: Kartashev A I, Etsin I Sh “Methods of Measuring Small Phase Difference Changes in Interference Devices” Sov. Phys. Usp. 15 232–250 (1972); DOI: 10.1070/PU1972v015n02ABEH004966