RSS-ленты
РусскийEnglish
Выпуск 9, 2026
Том год страница
Выпуски Авторы PACS Подписчикам Для авторов

Выпуски

 / 

1972

 / 

апрель

←  →

Новые приборы и методы измерений


Методы измерения малых изменений разности фаз в интерференционных устройствах

,

Содержание: Введение. Принципиальные ограничения точности интерференционных измерений. Визуальные методы. Метод измерения смещения полос. Метод равномерного поля. Метод уравнивания яркости соседних полос. Метод чувствительного цвета. Метод темного поля. Метод мерцаний. Метод эквиденситометрии. Фотоэлектрические методы. Модуляционный метод. Фазовый метод. Метод временного преобразования. Осциллографические методы. Компенсационный метод. Заключение. Цитированная литература.

Текст pdf (2,6 Мб)
English fulltext is available at DOI: 10.1070/PU1972v015n02ABEH004966
PACS: 07.60.Ly, 06.30.Bp, 85.60.−q (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0106.197204h.0687
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1972/4/h/
Цитата: Карташев А И, Эцин И Ш "Методы измерения малых изменений разности фаз в интерференционных устройствах" УФН 106 687–721 (1972)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

English citation: Kartashev A I, Etsin I Sh “Methods of Measuring Small Phase Difference Changes in Interference Devices” Sov. Phys. Usp. 15 232–250 (1972); DOI: 10.1070/PU1972v015n02ABEH004966

Статьи, ссылающиеся на эту (32) ↓ Похожие статьи (4)

  1. Shvets V A Opt. Spectrosc. 123 (2) 300 (2017)
  2. Lyalikov A M Tech. Phys. 53 (11) 1519 (2008)
  3. Mishchenko Yu V Meas Tech 42 (8) 761 (1999)
  4. Badikov S A, Gai E V, Rabotnov N S At Energy 86 (1) 41 (1999)
  5. Borkova V N, Kraiskii A V, Zubov V A J Russ Laser Res 19 (1) 1 (1998)
  6. D’yakonov M V, Faîsullov T F et al J Russ Laser Res 18 (2) 125 (1997)
  7. Mishchenko Yu V Meas Tech 38 (5) 511 (1995)
  8. Mishchenko Yu V Meas Tech 37 (4) 404 (1994)
  9. Veselov A V, Komleva G V, Mrachkovskij V I MRS Proc. 372 (1994)
  10. Zubov V A, Sultanov T T et al J Russ Laser Res 13 (2) 140 (1992)
  11. Mishchenko Yu V Meas Tech 35 (7) 807 (1992)
  12. Andrushchak A S, Mytsyk B G Meas Tech 35 (7) 816 (1992)
  13. Buczko C M, Csikai J et al Nuclear Data for Science and Technology Research Reports in Physics Chapter 187 (1992) p. 656
  14. Rokosova L A, Rokos I A Meas Tech 34 (7) 675 (1991)
  15. J Russ Laser Res 9 (2) 177 (1988)
  16. Mishchenko Yu V Meas Tech 28 (8) 722 (1985)
  17. Reggoug A, Paic G et al Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment 227 (2) 249 (1984)
  18. Ryves T B, Hongchang M et al J. Phys. G: Nucl. Phys. 9 (12) 1549 (1983)
  19. Zakharov V P, Snezhko Yu A Meas Tech 23 (4) 298 (1980)
  20. Dubrov M N Meas Tech 23 (7) 597 (1980)
  21. Vaninbroukx R Physical Aspects (1980) p. 143
  22. Volkova E A, �tsina A L Meas Tech 22 (2) 146 (1979)
  23. Harmatz B Nuclear Data Sheets 28 (3) 403 (1979)
  24. Volkova E A, �tsina A L J Appl Spectrosc 28 (6) 729 (1978)
  25. �tsina A L Meas Tech 21 (4) 491 (1978)
  26. Kurowski P, Wagner J, Martienssen W Appl. Phys. 17 (4) 343 (1978)
  27. Il’yasov R Sh, Malinin Yu N, Pol’skii Yu E Meas Tech 20 (10) 1470 (1977)
  28. Toropov A K Meas Tech 20 (2) 210 (1977)
  29. Zakharov V P, Tychinskii V P et al Meas Tech 19 (10) 1433 (1976)
  30. Schulz G, Schwider J Progress in Optics Vol. 13 (1976) p. 93
  31. Vlasov V L, Medvedev A N Meas Tech 18 (8) 1181 (1975)
  32. Kocher D C Nuclear Data Sheets 13 (3) 337 (1974)
© Успехи физических наук, 1918–2026
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение