Выпуски

 / 

1972

 / 

Апрель

  

Новые приборы и методы измерений


Методы измерения малых изменений разности фаз в интерференционных устройствах

Содержание: Введение. Принципиальные ограничения точности интерференционных измерений. Визуальные методы. Метод измерения смещения полос. Метод равномерного поля. Метод уравнивания яркости соседних полос. Метод чувствительного цвета. Метод темного поля. Метод мерцаний. Метод эквиденситометрии. Фотоэлектрические методы. Модуляционный метод. Фазовый метод. Метод временного преобразования. Осциллографические методы. Компенсационный метод. Заключение. Цитированная литература.

Текст: pdf
Войдите или зарегистрируйтесь чтобы получить доступ к полным текстам статей.
PACS: 07.60.Ly, 06.30.Bp, 85.60.−q (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0106.197204h.0687
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1972/4/h/
Цитата: Карташев А И, Эцин И Ш "Методы измерения малых изменений разности фаз в интерференционных устройствах" УФН 106 687–721 (1972)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

English citation: Kartashev A I, Etsin I Sh “Methods of Measuring Small Phase Difference Changes in Interference DevicesSov. Phys. Usp. 15 232–250 (1972); DOI: 10.1070/PU1972v015n02ABEH004966

Статьи, ссылающиеся на эту (31) ↓ Похожие статьи (4)

  1. Shvets V A Opt. Spectrosc. 123 300 (2017)
  2. Lyalikov A M Tech. Phys. 53 1519 (2008)
  3. Badikov S A, Gai E V, Rabotnov N S At Energy 86 41 (1999)
  4. Mishchenko Yu V Meas Tech 42 761 (1999)
  5. Borkova V N, Kraiskii A V, Zubov V A J Russ Laser Res 19 1 (1998)
  6. D’yakonov M V, Faîsullov T F et al J Russ Laser Res 18 125 (1997)
  7. Mishchenko Yu V Meas Tech 38 511 (1995)
  8. Mishchenko Yu V Meas Tech 37 404 (1994)
  9. Veselov A V, Komleva G V, Mrachkovskij V I MRS Proc. 372 (1994)
  10. Mishchenko Yu V Meas Tech 35 807 (1992)
  11. Andrushchak A S, Mytsyk B G Meas Tech 35 816 (1992)
  12. Buczko C M, Csikai J et al Nuclear Data for Science and Technology Research Reports in Physics Chapter 187 (1992) p. 656
  13. Zubov V A, Sultanov T T et al J Russ Laser Res 13 140 (1992)
  14. Rokosova L A, Rokos I A Meas Tech 34 675 (1991)
  15. J Russ Laser Res 9 177 (1988)
  16. Mishchenko Yu V Meas Tech 28 722 (1985)
  17. Reggoug A, Paic G et al Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment 227 249 (1984)
  18. Ryves T B, Hongchang M et al J. Phys. G: Nucl. Phys. 9 1549 (1983)
  19. Vaninbroukx R Physical Aspects (1980) p. 143
  20. Zakharov V P, Snezhko Yu A Meas Tech 23 298 (1980)
  21. Dubrov M N Meas Tech 23 597 (1980)
  22. Volkova E A, �tsina A L Meas Tech 22 146 (1979)
  23. Harmatz B Nuclear Data Sheets 28 403 (1979)
  24. �tsina A L Meas Tech 21 491 (1978)
  25. Volkova E A, �tsina A L J Appl Spectrosc 28 729 (1978)
  26. Kurowski P, Wagner J, Martienssen W Appl. Phys. 17 343 (1978)
  27. Il’yasov R Sh, Malinin Yu N, Pol’skii Yu E Meas Tech 20 1470 (1977)
  28. Schulz G, Schwider J Progress in Optics Vol. 13 (1976) p. 93
  29. Zakharov V P, Tychinskii V P et al Meas Tech 19 1433 (1976)
  30. Vlasov V L, Medvedev A N Meas Tech 18 1181 (1975)
  31. Kocher D C Nuclear Data Sheets 13 337 (1974)

© Успехи физических наук, 1918–2020
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение